Fig. S2 displays the XRD patterns o

Fig. S2 displays the XRD patterns of γ-Al2O3/TiO2 carrier, Cu-catalyst
and Cu/Ni-catalyst. The XRD phases of γ-Al2O3 and TiO2 can simply be
observed (Fig. S2 (a)). The characteristic peaks of CuO crystal could be
observed in the XRD pattern of Cu-catalyst (Fig. S2 (b)) and bimetallic
Cu/Ni-catalyst (Fig. S2 (c)), and the existence of sharp peak at 2θ of
35.1° indicated the existence of CuO

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูป S2 แสดงรูปแบบการ XRD ของγ-Al2O3/TiO2, Cu-เศษและ Cu/Ni-เศษ ขั้นตอนการ XRD ของγ-Al2O3 และ TiO2 สามารถสังเกต (มะเดื่อ S2 (a)) ยอดเขาลักษณะของ CuO คริสตัลอาจจะสังเกตในรูปแบบ XRD ของ Cu-เศษ (มะเดื่อ S2 (b)) และ bimetallicCu/Ni-เศษ (มะเดื่อ S2 (c)), และการดำรงอยู่ของความคมชัดสูงสุดที่ 2θ ของ35.1 องศาแสดงการดำรงอยู่ของ CuO

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

มะเดื่อ. S2 แสดงรูปแบบ XRD ของγ-Al2O3 / TiO2 บริการ Cu-ตัวเร่งปฏิกิริยา
และ Cu / Ni-ตัวเร่งปฏิกิริยา ขั้นตอน XRD ของγ-Al2O3 และ TiO2 ก็สามารถจะ
สังเกตได้ (รูป. S2 (ก)) ยอดเขาที่ลักษณะของออกไซด์คริสตัลอาจจะ
พบในรูปแบบ XRD ของ Cu-ตัวเร่งปฏิกิริยา (รูป. S2 (ข)) และ bimetallic
Cu / Ni-ตัวเร่งปฏิกิริยา (รูป. S2 (c)) และการดำรงอยู่ของยอดความคมชัดที่2θของ
35.1 °ชี้ให้เห็นการดำรงอยู่ของออกไซด์