The divergent X-ray beam from the X

The divergent X-ray beam from the X-ray source, which was positioned at
an input focal distance F1 away from the input of the PFXRL, was
focused by the PFXRL into an output focal spot at an output focal
distance F2 away from the output of the PFXRL. The PPXRHL was
placed confocally at an input focal distance F3 away from the
output focal spot of the PFXRL The X-ray source used was a Mo rotating-anode X-ray generator whose spot size is 300300 μm2. The detector system is composed of an XFlash Detector 2001 RÖNTEC and a RÖNTEC MAX
Spectrometer.The crystal thickness of the detector is 0.3mm. The
peak-to-background-ratio is better than 400:1 for MnKα radiation
at 5.89 keV.The maximum count rate of the detector system is
4105 counts/s The energy resolution of this detector system is
142eVat5.9keV,and the entrance size of the detector is 5mm2

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ลำแสงเอกซเรย์ขันติธรรมจากเอกซเรย์ต้น ซึ่งเป็นตำแหน่งที่มีการป้อนโฟกัสห่างจาก F1 การป้อน PFXRLเน้น โดย PFXRL ที่เป็นจุดโฟกัสเป็นผลผลิตที่ออกโฟกัสห่างจาก F2 จากผลลัพธ์ของการ PFXRL PPXRHL ถูกวาง confocally ในการป้อนโฟกัสระยะ F3 ออกจากเอ็กซ์เรย์กำเนิดขั้วหมุน Mo 300 300 μm2 มีขนาดจุดออกจุดโฟกัสของแหล่ง PFXRL เอ็กซ์เรย์ที่ใช้ได้ ระบบตรวจจับประกอบด้วยการ XFlash จับ 2001 RÖNTEC และ RÖNTEC MAX0.3 มม.ความหนาคริสตัล Spectrometer.The ของเครื่องตรวจจับได้ ที่สูงสุดสู่พื้นหลังอัตราส่วนที่เหมาะกว่า 400:1 MnKα รังสีที่ 5.89 keV.The เป็นอัตราสูงสุดของระบบตรวจจับ4 105 นับ/s เป็นการแก้ปัญหาพลังงานของระบบเครื่องตรวจจับนี้142eVat5.9keV และทางเข้าของเครื่องตรวจจับที่มีขนาด 5 มม. 2

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

X-ray beam แตกต่างจากแหล่ง X-ray ซึ่งเป็นตำแหน่งที่
ป้อนข้อมูล F1 ระยะโฟกัสห่างจากการป้อนข้อมูลของ PFXRL ถูก
มุ่งเน้นโดย PFXRL เป็นเอาท์พุทจุดโฟกัสที่การส่งออกโฟกัส
F2 ระยะห่างจากเอาท์พุท ของ PFXRL PPXRHL ถูก
วาง confocally ที่ป้อนข้อมูล F3 ระยะโฟกัสห่างจาก
เอาท์พุทจุดโฟกัสของ PFXRL แหล่งรังสีเอกซ์ที่ใช้เป็นเครื่องกำเนิดไฟฟ้าหมุน Mo-ขั้วบวก X-ray ที่มีขนาดของจุดเป็น 300? 300 μm2 ระบบตรวจจับประกอบด้วย XFlash ตรวจจับ 2001 RÖNTECและRÖNTEC MAX
Spectrometer.The ความหนาของเครื่องตรวจจับคริสตัลเป็น 0.3mm
จุดสูงสุดไปพื้นหลังอัตราส่วนดีกว่า 400: 1 สำหรับรังสีMnKα
ที่ 5.89 keV.The อัตราการนับสูงสุดของระบบตรวจจับเป็น
4 105 ตัว / s ความละเอียดการใช้พลังงานของระบบตรวจจับนี้คืออะไร?
142eVat5.9keV และ ขนาดทางเข้าของเครื่องตรวจจับเป็น 5mm2

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ที่แตกต่างกัน X-ray คานจากแหล่งกำเนิดรังสี - x ซึ่งเป็นตำแหน่งที่
ใส่โฟกัสระยะ F1 ห่างจากการป้อนข้อมูลของ pfxrl ,
เน้นโดย pfxrl เป็น output โฟกัสจุดที่โฟกัสระยะ F2
ออกห่างจากผลผลิตของ pfxrl . การ ppxrhl คือ
วางไว้ confocally ที่ป้อนระยะทางห่างจาก
+ โฟกัสผลการ pfxrl จุดของแหล่งกำเนิดรังสี - x ที่ใช้เป็นโมหมุนขั้วบวกเครื่องเอกซเรย์ที่มีขนาดจุด 300  300 μ M2 ระบบตรวจจับจะประกอบด้วยการ xflash ตรวจจับ 2001 r Ö ntec และ R Ö ntec แม็กซ์
spectrometer.the คริสตัล ความหนาของเครื่องเป็น 0.3mm .
สูงสุดต่อพื้นหลังที่ดีกว่า 400 : 1 สำหรับ mnk αรังสี
ที่ 5.89 เคฟการนับคะแนนสูงสุดของระบบตรวจจับคือ
4  105 นับ / s พลังงานความละเอียดของระบบตรวจจับนี้
142evat5.9kev และทางเข้าขนาดของเครื่องตรวจจับ 5mm2