Scanning electron microscopy (SEM)

Scanning electron microscopy (SEM) revealed that
the microstructures of the films are the basis for the differences in the barrier and mechanical properties of the modified blends of SPI, polysaccharides and La.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สแกน microscopy อิเล็กตรอน (SEM) การเปิดเผยที่microstructures ของ films เป็นพื้นฐานสำหรับความแตกต่างในอุปสรรคและผสม modified SPI, polysaccharides และ La. คุณสมบัติทางกล

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) เปิดเผยว่า
จุลภาคของ LMS Fi เป็นพื้นฐานสำหรับความแตกต่างในอุปสรรคและคุณสมบัติเชิงกลของผสม Fi Modi เอ็ดของ SPI, polysaccharides และ La

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) พบว่าโครงสร้างของ
จึง LMS เป็นพื้นฐานสำหรับความแตกต่างในอุปสรรคและสมบัติเชิงกลของพอลิเมอร์ผสมของโมไดจึงเอ็ด SPI และ polysaccharides
, LA