Microstructure observations were co

Microstructure observations were conducted on some specimens carefully polished with colloidal SiO powder using a conventional SEM and eletron backscatter diffraction pattern analysis equpped with FE-SEM with TexSEM Laboratories-OIM software.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ข้อสังเกตโครงสร้างจุลภาคถูกดำเนินการบนบางอย่างรอบคอบขัด ด้วยผงยืนยันตัว้ colloidal ใช้ SEM ทั่วไปและอุปกรณ์วิเคราะห์รูปแบบ eletron แสงกระจายกลับกระจายกับ FE SEM กับซอฟต์แวร์ TexSEM ห้องปฏิบัติการ-OIM

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สังเกตจุลภาคได้ดำเนินการในบางตัวอย่างระมัดระวังขัดด้วยผงซิลิกาคอลลอยด์โดยใช้การวิเคราะห์ SEM และรูปแบบการเลี้ยวเบน Eletron backscatter ธรรมดา equpped กับ FE-SEM กับซอฟต์แวร์ TexSEM ห้องปฏิบัติการ OIM

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ดำเนินการในบางตัวอย่างโครงสร้างจุลภาคสังเกตอย่างระมัดระวังขัดด้วยผงซิลิกาคอลลอยด์โดยใช้ SEM และการวิเคราะห์รูปแบบการเลี้ยวเบน eletron แบบกระเจิงกลับ equpped กับ fe-sem กับห้องปฏิบัติการ texsem oim ซอฟต์แวร์