The scanning electron microscopy (S

The scanning electron microscopy (SEM) of the surface and the energy-dispersive X-ray (EDX) microanalysis were performed in the microscopes Nova NanoSEM 200 (FEI Company, USA) and REM-106I (SELMI, Ukraine). The X-ray diffraction (XRD) was studied in the filtered CuKa
(l=1.5406˚A) emission using the diffractometer PANalytical Empyrean. The phases were identified using X’Pert Highscore plus and ICDD PDF-2 data.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สแกนอิเล็กตรอน microscopy (SEM) ของพื้นผิวและ microanalysis เอ็กซ์เรย์ (เรื่อง) พลังงาน dispersive ถูกดำเนินในกล้องจุลทรรศน์ 200 NanoSEM โนวา (บริษัทเฟย สหรัฐอเมริกา) และ REM-106I (SELMI ยูเครน) การเลี้ยวเบนเอ็กซ์เรย์ (XRD) ได้ศึกษาใน CuKa กรอง(l = 1.5406˚A) มลพิษที่ใช้ diffractometer PANalytical Empyrean ระยะที่ระบุโดยใช้คะแนนสูงสุด X'Pert บวกและข้อมูล ICDD PDF-2

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) ของพื้นผิวและพลังงานกระจาย X-ray (EDX) microanalysis ได้ดำเนินการในกล้องจุลทรรศน์โนวา NanoSEM 200 (บริษัท เฟสหรัฐอเมริกา) และ REM-106I (Selmi, ยูเครน) X-ray diffraction (XRD) ได้รับการศึกษาในการกรอง Cuka
(L = 1.5406˚A) ปล่อยก๊าซเรือนกระจกโดยใช้ diffractometer PANalytical Empyrean ขั้นตอนที่ถูกระบุโดยใช้บวก X'Pert Highscore และ ICDD PDF-2 ข้อมูล

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

โดยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ของพื้นผิวและพลังงานกระจายตัวรังสี ( การวัด ) การจัดเรียงกันอยู่ในกล้องจุลทรรศน์ โนวา nanosem 200 ( เฟย บริษัท , USA ) และ rem-106i ( selmi , ยูเครน ) การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ ( XRD ) คือการศึกษาในกรอง cuka
( L = 1.5406 ˚ ) การใช้ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ panalytical สวยงามมาก .ขั้นตอนที่ถูกระบุว่าใช้คอมฯและบวก x'pert icdd pdf-2 ข้อมูล