The phase identity, composition wer

The phase identity, composition were recorded by using a Rigaku D/Max 2200PC diffractometer with a graphite monochromator and Cu-K radiation (l 1/4 0.15418 nm). The structure, size, and shape of the products were characterized by a transmission electron
microscope (TEM, JEM100-CXII) with an accelerating voltage of 80 kV, a eld-emission scanning electron microscope (FE-SEM, Hitachi, S4800), and a high-resolution transmission electron microscope (HRTEM, JEM-2100) with an accelerating voltage of 200 kV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รหัสขั้นตอน องค์ประกอบถูกบันทึกไว้ โดยใช้ diffractometer 2200PC Rigaku D/สูง สุด monochromator แกรไฟต์และ Cu K รังสี (l nm 0.15418 1/4) โครงสร้าง ขนาด และรูปร่างของผลิตภัณฑ์มีลักษณะ โดยอิเล็กตรอนส่ง
กล้องจุลทรรศน์ (ยการ JEM100-CXII) กับแรงดันไฟฟ้าปัจจุบัน 80 kV กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกนปล่อยก๊าซ eld (FE SEM ฮิตาชิ S4800), และมีความละเอียดสูงส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (HRTEM, JEM-2100) กับแรงดันไฟฟ้าปัจจุบัน 200 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตัวตนขั้นตอนองค์ประกอบที่ถูกบันทึกไว้โดยใช้ diffractometer Rigaku: D / แม็กซ์ 2200PC กับ monochromator กราไฟท์และการฉายรังสี Cu-K (ลิตร 1/4 0.15418 นาโนเมตร) โครงสร้างขนาดและรูปร่างของผลิตภัณฑ์ที่โดดเด่นด้วยการส่งผ่านอิเล็กตรอน
กล้องจุลทรรศน์ (TEM, JEM100-CXII) กับแรงดันไฟฟ้าเร่ง 80 กิโลโวลต์,? ไฟไหม้ปล่อยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (FE-SEM, ฮิตาชิ, S4800) และกล้องจุลทรรศน์ความละเอียดสูงการส่งผ่านอิเล็กตรอน (HRTEM, JEM-2100) ที่มีแรงดันไฟฟ้าเร่งจาก 200 กิโลโวลต์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ระยะเอกลักษณ์ องค์ประกอบที่ถูกบันทึกไว้โดยใช้ rigaku D / แม็กซ์ 2200pc ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ด้วยกราไฟท์และโมโนโครเมเตอร์ cu-k รังสี ( 1 1 / 4 0.15418 nm ) โครงสร้าง ขนาด และรูปร่างของผลิตภัณฑ์ถูก characterized โดยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน
กล้องจุลทรรศน์ ( ประทับ , jem100-cxii ) เร่งแรงดัน 80 กิโล ,  ปล่อยละมั่ง กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( fe-sem , ฮิตาชิ , s4800 )และความละเอียดสูง ( hrtem ส่งกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน , เร่ง jem-2100 ) กับแรงดันไฟฟ้า 200 KV .