I. INTRODUCTIONIn present, the manu

I. INTRODUCTION
In present, the manufacturing technology and equipment
development in semiconductor fields are very advanced due to the
market competition. However, the investment of the package
technology, in contrast, is less that that of the previous. Therefore, in
the package technology, some issues are still observed, such as the
adhesion force of wire between chip and lead-frame in the integrated
circuit (IC), the choice of lead-frame material and the contamination
in mixing molding compound. All of these deteriorated factors are
able to degrade the electrical characteristics and operational
performance of ICs.
The life operation of IC products can be divided by three stages,
which are infant period, useful-life period, and wear-out period,
respectively. The failure distribution of these periods can be
described as a bathtub curve [1-3], shown in Fig. 1. Basically, the
failure rate is very high in infant period, because some existing innerdefects
are enhanced dramatically. Normally, the failure ICs are able
to be screened out in this infant period in infant mortality (IM) [4-6]
experiment. The conditions of IM experiment contain high
temperature operating at 125

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

I. บทนำในปัจจุบัน เทคโนโลยีการผลิต และอุปกรณ์พัฒนาในสารกึ่งตัวนำมีขั้นสูงมากเนื่องการแข่งขันในตลาด อย่างไรก็ตาม การลงทุนของเทคโนโลยี ในทางตรงกันข้าม คือนั้นก่อนหน้านี้ ดังนั้น ในเทคโนโลยีบรรจุภัณฑ์ บางประเด็นยังคงพบ เช่นการแรงยึดเกาะของลวดระหว่างชิปและกรอบเป้าหมายในการรวมวงจร (IC), เลือกวัสดุเฟรมเป้าหมาย และการปนเปื้อนในการผสมพลาสติกผสม ปัจจัยเหล่านี้ deteriorated ทั้งหมดสามารถลดทอนลักษณะไฟฟ้า และการดำเนินงานประสิทธิภาพการทำงานของ ICsการดำเนินชีวิตของผลิตภัณฑ์ IC ที่สามารถหาร ด้วยสามขั้นตอนซึ่งเป็นระยะที่ทารก ประโยชน์อายุ และระยะ เวลาการสวมใส่ออก,ตามลำดับ การกระจายความล้มเหลวของรอบระยะเวลาเหล่านี้ได้อธิบายว่า โค้งอ่างอาบน้ำ [1-3], แสดงใน Fig. 1 โดยทั่วไป การอัตราความล้มเหลวจะสูงมากในระยะเวลาที่ทารก เนื่องจาก innerdefects บางอย่างที่มีอยู่จะเพิ่มอย่างมาก โดยปกติ ความล้มเหลว ICs จะจะมีฉายออกในช่วงนี้ทารกในทารกตาย (IM) [4-6]ทดลอง เงื่อนไขของการทดลอง IM ประกอบด้วยสูงปฏิบัติการที่ 125