Fig. 2. Scanning electronic microst

Fig. 2. Scanning electronic microstructure of sweet potato flours manufactured with pretreatment at different drying temperatures. a, b and c: Peeled flours dried at 55, 60,
and 65 C; d, e, f: Peeled flours dried at 55, 60, and 65 C after treatment with NaHSO3 solution. g, h, i: Unpeeled flours dried at 55, 60, and 65 C respectively; j, k, l: Unpeeled
flours dried at 55, 60, and 65 C after treatment with NaHSO3 solution.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

มะเดื่อ. 2. สแกนจุลภาคอิเล็กทรอนิกส์ของแป้งมันเทศผลิตด้วยการปรับสภาพการอบแห้งที่อุณหภูมิที่แตกต่างกัน A, B และ C: แป้งปอกเปลือกแห้งที่ 55, 60,
และ 65 C? D, E, F: ปอกเปลือกแป้งแห้งที่ 55, 60, และ 65 C หลังการรักษาด้วยวิธีการแก้ปัญหา NaHSO3? G, H, I:? แป้ง unpeeled แห้งที่ 55, 60, และ 65 องศาเซลเซียสตามลำดับ J, K, L: unpeeled
แป้งแห้งที่ 55, 60, และ 65 C หลังการรักษาด้วยวิธีการแก้ปัญหา NaHSO3?

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปที่ 2 สแกนอิเล็กทรอนิกส์โครงสร้างมันฝรั่งหวานแป้งผลิตด้วยภาวะที่อุณหภูมิการอบแห้งที่แตกต่างกัน . A , B และ C : ปอกเปลือกแป้งแห้งที่ 55 , 60 ,และ 65 C ; D , E , F : ปอกเปลือกแป้งแห้งที่ 55 , 60 และ 65 องศาเซลเซียส หลังการรักษาด้วย nahso3 โซลูชั่น G , H , I : unpeeled แป้งแห้งที่ 55 , 60 และ 65 องศาเซลเซียสตามลำดับ ; J , K , L : unpeeledแป้งแห้งที่ 55 , 60 และ 65 องศาเซลเซียส หลังการรักษาด้วย nahso3 โซลูชั่น