For DT < DT*, two recalescence even

For DT < DT*, two recalescence events can be detected
(Fig. 1a), where usually the second recalescence
signal is weak. As shown in Figure 1c, a typical morphology
caused by peritectic solidification is obtained,
where the peritectic c phase (white) forms around the
primary d phase (dark). Peritectic solidification can be
further evidenced using the microsegregation pattern
of Ni (see Fig. 2), where the average Ni concentration
of d phase is much lower than that of c phase and
the concentration curves within the c phase show an

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สำหรับ DT < DT * recalescence สองที่สามารถตรวจจับเหตุการณ์(Fig. 1a), ซึ่งมักจะ recalescence ที่สองสัญญาณจะอ่อน ดังแสดงในรูปที่ 1c สัณฐานวิทยาทั่วไปเกิด โดย peritectic solidification ได้รับที่ peritectic c ระยะฟอร์ม (สีขาว) สถานหลัก d ระยะ (มืด) Peritectic solidification สามารถต่อไป เป็นหลักฐานโดยใช้รูปแบบ microsegregationของ Ni (ดู Fig. 2), ที่ความเข้มข้นเฉลี่ยของ Niระยะ d คือต่ำมากกว่าของเฟส c และเส้นโค้งความเข้มข้นภายใน c ระยะที่แสดงเป็น

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สำหรับ DT <DT * สองเหตุการณ์ recalescence สามารถตรวจพบได้
(รูป. 1a) ที่มักจะ recalescence สอง
สัญญาณอ่อนแอ ดังแสดงในรูปที่ 1 c, สัณฐานวิทยาทั่วไป
ที่เกิดจากการแข็งตัว peritectic จะได้รับ
รูปแบบที่คเฟส peritectic (สีขาว) รอบ
D ขั้นตอนหลัก (เข้ม) การแข็งตัว Peritectic สามารถ
หลักฐานเพิ่มเติมโดยใช้รูปแบบการ microsegregation
ของ Ni (ดูรูป. 2) ที่ความเข้มข้น Ni เฉลี่ย
ของ D ระยะที่เป็นมากต่ำกว่าของคเฟสและ
เส้นโค้งความเข้มข้นในการแสดงคเฟส

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สำหรับ DT < DT * 2 recalescence เหตุการณ์สามารถตรวจพบ
( รูปที่ 1 ) ซึ่งโดยปกติแล้วสัญญาณ recalescence
สองอ่อน ดังแสดงในรูปที่ 1 ซี , ทั่วไปสัณฐานวิทยา
เกิดจากเพอริเทคติกแข็งได้มา
ที่เพอริเทคติก C เฟส ( สีขาว ) รูปแบบรอบ
หลัก D เฟส ( มืด ) เพอริเทคติกแข็งสามารถใช้รูปแบบ microsegregation เพิ่มเติมหลักฐาน

Ni ( ดูรูปที่ 2 )ที่ความเข้มข้นเฉลี่ยนิ
D เฟสน้อยกว่าและระยะของ C
ความเข้มข้นเส้นโค้งภายใน C เฟสแสดง