The XAFS measurements were performe

The XAFS measurements were performed on chromium doped
silicate glass samples in fluorescence mode at Cr K-edge (5989 eV) at
the XAFS beamline 11.1R of the ELETTRA synchrotron light source
(130 mA, 2.4 GeV)

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ดำเนินการวัด XAFS ในโครเมียม dopedตัวอย่างแก้วซิลิเกในโหมด fluorescence ที่ Cr K ขอบ (5989 eV) ที่beamline XAFS 11.1R ของแหล่งแสง synchrotron ELETTRA(130 mA, 2.4 GeV)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

วัด XAFS ได้ดำเนินการในโครเมียมเจือ
ตัวอย่างแก้วซิลิเกตในโหมดการเรืองแสงที่ Cr K-ขอบ (5989 eV) ที่
XAFS ระบบลำเลียงแสง 11.1R ของแหล่งกำเนิดแสงซินโคร ELETTRA
(130 mA 2.4 GeV)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การ xafs การวัดจำนวนโครเมียมด้วย
ซิลิเกตแก้วตัวอย่างในโหมดการ k-edge CR ( 5989 EV )
xafs บีมไลน์ 11.1r ของ elettra แสงซิงโครตรอน
( 130 มา 2.4 gev )