After the reaction, the synthesized

After the reaction, the synthesized sample was taken out and characterized by field emission scanning electron microscopy (FE-SEM, JSM-6500F) equipped with an energy-dispersive X-ray (EDX) spectrometer. X-ray diffraction analysis was carried out using a diffractometer (Panalytical X'pert PRO) with copper Kα line as incident radiation. Raman scattering spectra were recorded using a Jobin-Yvon T64000 Raman-scattering spectrometer at room temperature in the backscattering geometry. The 514.5 nm line of a 100 mW Ar+ laser was used for the excitation source. To study the emission properties of ZnO nanostructures, the cathodoluminescence (CL) spectra were carried out at room temperature using a temperature-controllable cathodoluminescence detector (Mono CL, Gatan) installed in the FE-SEM, which was performed at an accelerating voltage of 10 kV.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

หลังจากปฏิกิริยา ตัวอย่างสังเคราะห์ถูกนำออกมา แล้วโดยสแกนอิเล็กตรอน microscopy (FE SEM, JSM 6500F) พร้อมสเปกโตรมิเตอร์เอกซเรย์ (เรื่อง) พลังงาน dispersive มลพิษฟิลด์ วิเคราะห์เอกซเรย์การเลี้ยวเบนได้ดำเนินการใช้ diffractometer (Panalytical X'pert PRO) ด้วยบรรทัด Kα ทองแดงเป็นรังสีที่เกิดเหตุ แรมสเป็คตรา scattering รามันได้รับการบันทึกโดยใช้สเปกโตรมิเตอร์ scattering Jobin Yvon T64000 รามันที่อุณหภูมิห้องในเรขาคณิต backscattering บรรทัด nm 514.5 mW Ar + เลเซอร์ 100 ใช้สำหรับต้นในการกระตุ้น การศึกษาคุณสมบัติการเล็ดรอดของ ZnO nanostructures แรมสเป็คตรา cathodoluminescence (CL) ได้ดำเนินการที่อุณหภูมิของห้องที่ใช้ที่อุณหภูมิควบคุม cathodoluminescence จับ (Mono CL, Gatan) ติดตั้งใน FE-SEM ที่ทำการที่มีแรงดันไฟฟ้าปัจจุบัน 10 kV

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

หลังจากปฏิกิริยาตัวอย่างสังเคราะห์ถูกนำออกมาและโดดเด่นด้วยการปล่อยสนามสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (FE-SEM, JSM-6500F) พร้อมกับพลังงานกระจาย X-ray (EDX) สเปกโตรมิเตอร์ X-ray การวิเคราะห์การเลี้ยวเบนได้ดำเนินการใช้มาตรการเลี้ยวเบน (Panalytical X'pert PRO) กับทองแดงสายKαรังสีเหตุการณ์ที่เกิดขึ้น รามันสเปกตรัมกระเจิงถูกบันทึกไว้โดยใช้สเปกโตรมิเตอร์ Jobin-Yvon T64000 รามัน-กระเจิงที่อุณหภูมิห้องในเรขาคณิต backscattering บรรทัด 514.5 นาโนเมตร 100 mW Ar + เลเซอร์ที่ใช้สำหรับแหล่งที่มากระตุ้น เพื่อศึกษาคุณสมบัติการปล่อย ZnO โครงสร้างนาโนที่ cathodoluminescence (CL) สเปกตรัมได้ดำเนินการที่อุณหภูมิห้องโดยใช้เครื่องตรวจจับ cathodoluminescence อุณหภูมิควบคุม (โมโน CL, Gatan) ที่ติดตั้งใน FE-SEM ซึ่งได้รับการดำเนินการที่แรงดันไฟฟ้าเร่ง 10 กิโลโวลต์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

หลังจากปฏิกิริยาการสังเคราะห์ตัวอย่างออกมา และลักษณะด้านมลพิษโดยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( fe-sem jsm-6500f , ) พร้อมกับพลังงานกระจายตัวรังสี ( การวัด ) สเปกโตรมิเตอร์ การวิเคราะห์โดยการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ พบการใช้ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ ( panalytical x'pert Pro ) กับ K αทองแดงเส้นรังสีที่เกิดขึ้นสเปกตรัมรามันกระจัดกระจายถูกบันทึกโดยใช้โจบิน Yvon t64000 รามันกระจัดกระจายสเปกที่อุณหภูมิห้องใน backscattering เรขาคณิต การ 514.5 nm สาย 100 MW AR เลเซอร์ใช้ 01 เพื่อศึกษาคุณสมบัติของนาโนซิงค์ออกไซด์มลพิษ ,การ cathodoluminescence ( CL ) โดยทดลองที่อุณหภูมิในห้องควบคุมอุณหภูมิที่ใช้ cathodoluminescence ตรวจจับ ( โมโนคลอไรด์ gatan ) ติดตั้งใน fe-sem ซึ่งดำเนินการโดยเร่งแรงดัน 10 kV .