X-ray diffraction analysis of sampl

X-ray diffraction analysis of samples was performed using X-ray diffractometer (Shimadzu, XRD 7000) operated at 30 mA (tube current) and 40 kV (target voltage) with Cu Ka filtered radiation.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การเลี้ยวเบนการเอ็กซ์เรย์การวิเคราะห์ตัวอย่างทำใช้เอ็กซ์เรย์ diffractometer (Shimadzu, XRD 7000) ดำเนินการใน 30 mA (หลอดปัจจุบัน) และ 40 kV (แรงดันเป้าหมาย) กับ Cu คะกรองรังสี

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การวิเคราะห์การเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ของกลุ่มตัวอย่างได้รับการดำเนินการโดยใช้มาตรการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ (Shimadzu, XRD 7000) ดำเนินการวันที่ 30 มิลลิแอมป์ (หลอดในปัจจุบัน) และ 40 กิโลโวลต์ (แรงดันเป้าหมาย) กับลูกบาศ์กกากรองรังสี

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การวิเคราะห์โดยการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ของตัวอย่างการใช้เอกซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ ( Shimadzu , XRD 7000 ) ทำงานมา 30 ( หลอดในปัจจุบัน ) และ 40 กิโล ( แรงดันเป้าหมาย ) กับทองแดง กะ กรองรังสี