3.2. X-ray diffractionThe X-ray dif

3.2. X-ray diffraction
The X-ray diffraction pattern of rice cultivars at different stages
of puffing are shown in Fig. 1. The raw rice flour samples in all the
three rice cultivars exhibited the A-type diffraction pattern with
the major peaks at 2h values of 15.29, 17.89, 23.35. The peaks at
2h values of 15, 17 with a peak around 23 signified A-type of diffraction
pattern of rice starches (Kalita, Kaushik, & Mahanta,
2012)

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

3.2 การเอ็กซ์เรย์การเลี้ยวเบนรูปแบบการเลี้ยวเบนเอ็กซ์เรย์ของพันธุ์ข้าวในระยะต่าง ๆของ puffing จะแสดงใน Fig. 1 ตัวอย่างแป้งข้าวดิบในทุกพันธุ์ข้าวที่สามจัดแสดงลวดลายการเลี้ยวเบนชนิด A กับยอดเขาหลักที่ 2h ค่า 15.29, 17.89, 23.35 แห่งที่ค่า 2h 15, 17 กับสูงสุดประมาณ 23 signified ราคา A-ชนิดของการเลี้ยวเบนรูปแบบของงอก (โครงการอสังหาริมทรัพย์ทั่ว Kaushik, & Mahanta2012)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

3.2 X-ray diffraction
รูปแบบ X-ray diffraction
พันธุ์ข้าวในแต่ละขั้นตอนของการพองจะแสดงในรูป 1.
กลุ่มตัวอย่างแป้งข้าวเจ้าดิบในทุกสามสายพันธุ์ข้าวที่จัดแสดงผลงานA-ประเภทเลนส์แบบที่มียอดเขาที่สำคัญของค่า 2h 15.29, 17.89, 23.35
ยอดเขาที่ค่า 2h 15, 17 ที่มียอดประมาณ 23 หมาย A-ชนิดของเลนส์รูปแบบของสตาร์ชข้าว(Kalita, Kaushik และ Mahanta, 2012)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

3.2 . การเลี้ยวเบนของรังสีเอกซ์
ลวดลายการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์ของพันธุ์ข้าวที่ขั้นตอนที่แตกต่างกันของการพองตัว
แสดงในรูปที่ 1 วัตถุดิบแป้งข้าวเจ้าในกลุ่มตัวอย่างทั้งหมด
3 สายพันธุ์ข้าวที่แสดงประเภทรูปแบบการเลี้ยวเบนกับ
ยอดสาขาที่เพิ่มขึ้นของค่าจ 17.89 , Method , . ยอดเขาที่ค่า
2H 15 , 17 กับจุดสูงสุดรอบ 23 signified โดย
เอรูปแบบของข้าวแป้ง ( kalita Kaushik &มหนฺต มะ
, , 2012 )