In order to shed more light on the

In order to shed more light on the phenomena, ex situ XRD was
applied for the crystal structure determination of graphitic
electrodes. Fig. 4 shows the XRD patterns of graphite electrodes
in AC/graphite capacitors charged to 3.5 V. The (0 0 2) diffraction
peak of graphite is located at 26.5 corresponding to a d-spacing of
3.354 Å. Once the voltage of AC/graphite capacitors climbs up to
3.5 V, the splitting of (0 0 2) diffraction peak occurred in the PC- and
GBL-solutions, which is a definite signal for the intercalation of
ClO4

. By the calculation methods as introduced in previous
studies [31,32],

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เพื่อที่จะหลั่งน้ำตาแสงเพิ่มเติมเกี่ยวกับปรากฏการณ์อดีตแหล่งกำเนิด XRD
ถูกนำมาใช้สำหรับการกำหนดโครงสร้างผลึกของgraphitic
ขั้วไฟฟ้า รูป 4 แสดงให้เห็นถึงรูปแบบ XRD
ของขั้วไฟฟ้ากราไฟท์ในตัวเก็บประจุAC / ไฟท์ค่าใช้จ่าย 3.5 โวลต์ (0 0 2)
การเลี้ยวเบนจุดสูงสุดของกราไฟท์ตั้งอยู่ที่26.5? สอดคล้องกับ D-ระยะห่างของ
3.354 Å เมื่อแรงดันของตัวเก็บประจุ AC / กราไฟท์ปีนขึ้นไปถึง
3.5 V แยกของ (0 0 2) การเลี้ยวเบนสูงสุดที่เกิดขึ้นในคอมพิวเตอร์ส่วนบุคคลและ
GBL โซลูชั่นซึ่งเป็นสัญญาณที่ชัดเจนในการเสพของ
ClO4?
โดยวิธีการคำนวณตามที่ก่อนหน้านี้นำมาใช้ในการศึกษา [31,32]

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เพื่อให้หลั่งไฟเพิ่มเติมเกี่ยวกับปรากฏการณ์ อดีตแหล่งกำเนิดรังสีเอ็กซ์คือ
ประยุกต์สำหรับโครงสร้างผลึกการหา graphitic
ขั้วไฟฟ้า รูปที่ 4 แสดงวิเคราะห์รูปแบบของแกรไฟต์ electrodes แกรไฟต์ Capacitors ชาร์จ AC /
ใน 3.5 โวลต์ ( 0 0 2 ) เลนส์
จุดสูงสุดของแกรไฟต์อยู่ที่ 26.5  ที่สอดคล้องกับ d-spacing ของ
3.354 • . เมื่อแรงดันของตัวเก็บประจุ AC / กราไฟท์ปีนขึ้น
3 V ,การแยก ( 0 0 2 ) เลนส์สูงสุดที่เกิดขึ้นในเครื่องคอมพิวเตอร์ -
gbl โซลูชั่น ซึ่งเป็นสัญญาณที่ชัดเจนสำหรับการสอดแทรก clo4


. โดยการคำนวณวิธีตามที่แนะนำในการศึกษาก่อนหน้านี้
[ 31,32 ]