Where: the For( l ) k represent the

Where: the For( l ) k represent the failure rate of branch k l .
The event 2 A occurs caused by the flow change after
event 1 A . There is correlation between 1 A and 2 A . To study
their relevance is to obtain P( A | A ) 2 1 from
P( A ) 1 and P( A ) 2 . In order to improve the computing speed,
two evaluation indicators are introduced when considering the
related failure: fault evaluation index lk ,m+1 F [11] and lines
dielectric
lk L [12].
Lines dielectric can be obtained by Djikstra algorithm [13].

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สถาน: ที่สำหรับ (l) k แสดงถึงอัตราความล้มเหลวของสาขา l k.
เหตุการณ์ 2 A เกิดขึ้นเกิดจากการเปลี่ยนแปลงขั้นตอนหลังจาก
เหตุการณ์ 1 A มีความสัมพันธ์ระหว่าง 1 A 2 A การศึกษา
ความเกี่ยวข้องจะได้ P (A | 1 2 a) จาก
P (A) 1 และ P (A) 2 เพื่อเพิ่มความเร็วคอมพิวเตอร์,
2 การประเมินตัวบ่งชี้มีการแนะนำเมื่อพิจารณา
ที่เกี่ยวข้องกับความล้มเหลว: ข้อบกพร่องการประเมินดัชนีแอล m 1 F [11] และบรรทัด
dielectric
แอล L [12] .
dielectric บรรทัดได้ โดยอัลกอริทึม Djikstra [13]

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สถานที่: สำหรับ (l) k เป็นตัวแทนของอัตราความล้มเหลวของสาขา kl
เหตุการณ์ที่ 2 เกิดขึ้นเกิดจากการเปลี่ยนแปลงการไหลหลังจาก
เหตุการณ์ที่ 1 มีความสัมพันธ์ระหว่างวันที่ 1 และ 2 เป็น เพื่อศึกษา
ความสัมพันธ์ของพวกเขาคือการได้รับ P (|) 2 1 จาก
P (A) 1 และ P (A) 2 เพื่อที่จะเพิ่มความเร็วในการประมวลผลการ
ประเมินตัวชี้วัดทั้งสองได้ถูกนำเสนอเมื่อพิจารณาถึง
ความล้มเหลวที่เกี่ยวข้อง: lk ดัชนีการประเมินผลความผิด +1 m F [11] และสาย
อิเล็กทริก
lk L [12]
สายอิเล็กทริกได้โดยขั้นตอนวิธีการ Djikstra [13 ]

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สถานที่ : ( L ) k แทนอัตราความล้มเหลวของสาขา K L .
เหตุการณ์ที่ 2 เกิดขึ้นเกิดจากการเปลี่ยนแปลงการไหลหลังจาก
เหตุการณ์ 1 . มีความสัมพันธ์ระหว่าง 1 และ 2 . การศึกษาความเกี่ยวข้องของพวกเขาเพื่อให้ได้
p ( | ) 2 1 จาก
p ( ) และ P ( A ) 2 . เพื่อเพิ่มความเร็วคอมพิวเตอร์ ,
2 การประเมินตัวบ่งชี้ที่แนะนำเมื่อพิจารณา
เกี่ยวข้องกับความล้มเหลว :ความผิดการประเมินดัชนี LK 1 F [ 11 ] และเส้น

อิเล็กทริก LK ผม [ 12 ] .
สายฉนวนสามารถได้รับ โดย djikstra ขั้นตอนวิธี [ 13 ]