Adjacent to the XRD data in Fig. 3,

Adjacent to the XRD data in Fig. 3, the corresponding XRF sinograms and tomograms are shown. The relatively lowenergetic fluorescence radiation (ETi–Ka = 4.5 keV, EBa–La = 4.4 keV) suffers severely from absorption along the path from within the sample toward the XRF detector. The latter is positioned on the left side (positive x) in the sinograms and at the top in the tomograms. The element-specific intensity of Ti and Ba is therefore observed to gradually reduce with decreasing x (away from the detector), obscuring the rightmost half of the STi–K and SBa–L sinograms of Fig. 3. Thus only the XRF signals that were emitted in the part of the sample closest to the detector during the rotation are visible in the corresponding tomograms gTi–K and gBa–L. For comparison, XRF sinograms and tomograms of Sr–K and Nb–K are also shown in Fig. 3 (third column). The emission lines of these two trace constituents are absorbed considerably less because of their higher energy (ESr–Ka = 14.3 keV; ENb–Ka = 19.6 keV) by the paint multilayer. Hence the corresponding sinograms are meaningful and complete, while in the tomograms the presence of these elements is visible throughout the entire length of specific layers. The low net detected Nb–Ka count rate (≤10 cps) causes the niobium distribution maps (both the sinogram as well as the tomogram) to be noisy. Comparison of the Ti- and Ba-related XRF and XRD sinograms and tomograms in Fig. 3 shows in a striking manner the double advantage associated with the use of XRD rather than XRF signals for tomography, that is: (i) XRD-based imaging is more specific since different Ti-bearing phases such as anatase and rutile (both TiO2) will be distinguishable from each other in XRD tomograms but not in the XRF distributions; and (ii) the scattering process exploited by XRD conserves the primary beamenergy (in this case 30 keV) and thereby significantly suppresses the distortions introduced by self-absorption that limit the usefulness of the XRF sinograms and tomograms.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ติดกับข้อมูล XRD ใน Fig. 3, XRF ตรง sinograms และ tomograms จะแสดงขึ้น ค่อนข้าง lowenergetic fluorescence รังสี (ETi – Ka = 4.5 keV, EBa – ลา = 4.4 keV) suffers จากดูดซึมไปตามเส้นทางจากภายในตัวอย่างไปจับ XRF อย่างรุนแรง หลังอยู่ทางด้านซ้าย (ค่าบวก x) ในการ sinograms และ ด้านบนในการ tomograms ดังนั้นจึงมีสังเกตองค์ประกอบเฉพาะความเข้มของตี้และบาค่อย ๆ ลดกับลด x (จากเครื่องตรวจจับ), obscuring ครึ่งด้านขวาสุดของ sinograms STi – K และ SBa – L 3 Fig. ดังนั้น สัญญาณ XRF ที่ถูกปล่อยออกในส่วนของตัวอย่างที่ใกล้เคียงกับเครื่องตรวจจับในระหว่างการหมุน เท่านั้นมองเห็นใน tomograms เกี่ยวข้อง gTi – K และ gBa-L. สำหรับการเปรียบเทียบ XRF sinograms และ tomograms ของ Sr – K และ Nb – K มีแสดงใน Fig. 3 (คอลัมน์ที่สาม) ใบปล่อยก๊าซเหล่านี้ติดตามสอง constituents มีดูดซึมมากน้อยของพลังงานสูง (ESr – Ka = 14.3 keV ENb–Ka = 19.6 keV) โดย multilayer สี ดังนั้น sinograms ที่สอดคล้องกันจะ สมบูรณ์ และมีความหมายในขณะที่ใน tomograms อยู่ขององค์ประกอบเหล่านี้จะมองเห็นได้ตลอดความยาวทั้งหมดของเฉพาะชั้น สุทธิต่ำพบอัตราจำนวน Nb-Ka (ของวิทยาลัย ≤10) ทำให้ไนโอเบียมแผนที่กระจาย (ทั้ง sinogram เป็น tomogram) ต้อง เปรียบเทียบเกี่ยวกับตี้ และบา XRF และ XRD sinograms และ tomograms ใน Fig. 3 แสดงอย่างโดดเด่นจากคู่ที่เกี่ยวข้องกับการใช้สัญญาณ XRD มากกว่า XRF สำหรับคอมพิวเตอร์ ที่: (i) โดย XRD ภาพจะระบุมากกว่าตั้งแต่ระยะตี้แบริ่งต่าง ๆ เช่น anatase และ rutile (ทั้ง TiO2) จะแตกต่างกัน ใน XRD tomograms แต่ไม่ กระจาย XRF และ (ii) การ scattering ไป XRD สงวน beamenergy หลัก (ในกรณีนี้ 30 keV) และอย่างมีนัยสำคัญจึงไม่ใส่บิดเบือนการนำ โดย self-absorption ที่จำกัดความมีประโยชน์ของ XRF sinograms และ tomograms

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ตั้งอยู่ใกล้เคียงกับข้อมูล XRD ในรูป 3 sinograms XRF สอดคล้องและ tomograms จะแสดง รังสีเรืองแสงค่อนข้าง lowenergetic (ETI-Ka = 4.5 เคฟลา EBA = 4.4 keV) ทนทุกข์ทรมานอย่างรุนแรงจากการดูดซึมไปตามเส้นทางจากภายในกลุ่มตัวอย่างที่มีต่อการตรวจจับ XRF หลังอยู่ในตำแหน่งด้านซ้าย (บวก x) ใน sinograms และที่ด้านบนใน tomograms ความเข้มขององค์ประกอบที่เฉพาะเจาะจงของ Ti และบาเป็นที่สังเกตจึงค่อยๆลดกับลดลง x (ห่างจากเครื่องตรวจจับ), ปิดบังครึ่งขวาสุดของ STi-K และ sinograms SBA-L ของรูป 3. ดังนั้นเพียงสัญญาณ XRF ที่ถูกปล่อยออกมาในส่วนของกลุ่มตัวอย่างที่ใกล้เคียงกับเครื่องตรวจจับในระหว่างการหมุนจะปรากฏใน tomograms GTI-K ที่สอดคล้องและ GBA-L สำหรับการเปรียบเทียบ sinograms XRF และ tomograms ของ Sr-K และ NB-K จะแสดงให้เห็นในรูป 3 (คอลัมน์ที่สาม) สายการปล่อยก๊าซเรือนกระจกของทั้งสององค์ประกอบร่องรอยถูกดูดซึมมากน้อยเพราะพลังงานที่สูงขึ้นของพวกเขา (ESR-Ka = 14.3 เคฟ; ENB-Ka = 19.6 เคฟ) โดยหลายสี ดังนั้น sinograms ที่สอดคล้องกันมีความหมายและมีความสมบูรณ์ในขณะที่ใน tomograms การปรากฏตัวขององค์ประกอบเหล่านี้จะมองเห็นได้ตลอดความยาวทั้งหมดของชั้นที่เฉพาะเจาะจง สุทธิต่ำตรวจพบอัตราการนับ NB-Ka (≤10ตัวอักษรต่อวินาที) ทำให้เกิดการกระจายแผนที่ไนโอเบียม (ทั้ง sinogram เช่นเดียวกับ Tomogram) เพื่อจะมีเสียงดัง เปรียบเทียบ ti- และ XRF บาเกี่ยวข้องและ XRD sinograms และ tomograms ในรูป 3 แสดงให้เห็นในลักษณะที่โดดเด่นได้เปรียบคู่เกี่ยวข้องกับการใช้ XRD มากกว่าสัญญาณ XRF สำหรับเอกซ์เรย์ที่เป็น: (i) การถ่ายภาพ XRD ที่ใช้เป็นที่เฉพาะเจาะจงมากขึ้นเนื่องจากขั้นตอนที่แตกต่างกัน Ti-แบกเช่นแอนาเทสและรูไทล์ (ทั้ง TiO2) จะมีความแตกต่างจากคนอื่น ๆ ใน tomograms XRD แต่ไม่ได้อยู่ในการกระจาย XRF; และ (ii) กระบวนการกระเจิงประโยชน์โดย XRD อนุรักษ์ beamenergy หลัก (ในกรณีนี้ 30 keV) และจึงมีนัยสำคัญยับยั้งการบิดเบือนที่นำมาใช้โดยการดูดซึมด้วยตนเองที่ จำกัด ประโยชน์ของ sinograms XRF และ tomograms

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ติดกับวิเคราะห์ข้อมูลในรูปที่ 3 , sinograms XRF tomograms สอดคล้องกันและแสดง รังสีแสงค่อนข้าง lowenergetic ( ETI ) ka = 4.5 เคฟ อี–ลา = 4.4 เคฟ ) ทนทุกข์ทรมานอย่างรุนแรงจากการดูดซึม ตลอดเส้นทางจากในตัวอย่างทาง XRF เครื่องตรวจจับ หลังตั้งอยู่บนด้านซ้าย ( บวก X ) ใน sinograms และที่ด้านบนในการ tomograms .องค์ประกอบที่เฉพาะเจาะจงและความเข้มของ TI BA จึงสังเกตลดกับลด x ( จากเครื่อง ) , ปิดบังตำแหน่งครึ่งหนึ่งของ STI – K และ SBA –ฉัน sinograms ของรูปที่ 3 ดังนั้นเพียง XRF สัญญาณที่ถูกปล่อยออกมา ในส่วนของตัวอย่างใกล้เครื่องตรวจจับในการหมุนจะมองเห็นได้ในที่ tomograms GTI – K และ GBA ) . สำหรับการเปรียบเทียบXRF และ sinograms tomograms ของ SR – K และ NB – K ยังแสดงในรูปที่ 3 ( ช่อง 3 ) การปล่อยสายของทั้งสองติดตามองค์ประกอบจะถูกดูดซึมน้อยมาก เพราะพลังงานสูง ( ESR ) ka = 14.3 Kev ; enb ) ka = 19.6 เคฟ ) โดยระบายหลายชั้น ดังนั้น sinograms ที่มีความหมาย และสมบูรณ์ขณะที่ใน tomograms สถานะขององค์ประกอบเหล่านี้สามารถมองเห็นได้ตลอดความยาวทั้งหมดของเฉพาะชั้น สุทธิต่ำพบ NB –ค่ะนับคะแนน ( ≤ 10 cps ) สาเหตุไนโอเบียมแจกแผนที่ ( ทั้ง sinogram เช่นเดียวกับแบบคอนโวลูชั่น ) อึกทึก การเปรียบเทียบของ Ti - BA ที่เกี่ยวข้องและ XRD และ XRF และ sinograms tomograms ในฟิค3 แสดงให้เห็นในลักษณะที่โดดเด่นสองประโยชน์ที่เกี่ยวข้องกับการใช้รังสีเอ็กซ์มากกว่า XRF สัญญาณเอกซเรย์คอมพิวเตอร์ นั่นคือ : ( ฉัน ) ตรวจตามภาพขึ้นเฉพาะตั้งแต่ที่แตกต่างกันเช่น Ti แบริ่งระยะแอนาเทสและรูไทล์ ( TiO2 ) จะแตกต่างจากแต่ละอื่น ๆใน tomograms แต่ไม่ใช่ XRF วิเคราะห์การกระจายและ ( 2 ) การใช้ประโยชน์จากกระบวนการตรวจอนุรักษ์ที่ beamenergy หลัก ( ในกรณีนี้ 30 เคฟ ) และจึงมีการแนะนำโดยยับยั้งการดูดซึมที่ จำกัด การใช้ประโยชน์ของ sinograms tomograms XRF และตนเอง