In Figs. 5a and b the variation of

In Figs. 5a and b the variation of b in Eq. (1) as a function of shaping time constant t, are presented for 3He and 4He detectors, respectively. The two data sets in each figure correspond to cases when the detectors were irradiated with a collimated electron beam (90Sr/90Y source) in directions perpendicular and parallel to the anode wire. The same figures show the corresponding dead time of ADC. There is a sharp decrease of b values as the shaping time increases from 2 to 4 ms, indicating that the majority of gamma and beta rays produce pulses with rise times approximately of this value. As expected, the dead time increases proportionally with t, due to the increase in the processing time of the pulses and also because, of the number of pulses with height greater than the lower level discriminator of the ADC (which was set
at 100 mV).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ในมะเดื่อ. 5a และขการเปลี่ยนแปลงของ b ใน Eq. (1) เป็นฟังก์ชันของเวลา t คงที่สร้าง แสดงสำหรับ 4He และ 3He เครื่องตรวจจับ ตามลำดับ ชุดข้อมูลสองชุดในแต่ละรูปที่สอดคล้องกับกรณีเมื่ออุปกรณ์ตรวจจับถูกฉายรังสี ด้วยลำอิเล็กตรอน collimated (90Sr/90Y แหล่ง) ในทิศทางตั้งฉาก และขนานกับสายขั้วบวก ตัวเลขเดียวกันแสดงเวลาตายที่สอดคล้องกันของ ADC มีค่า b ลดลงคมชัดเป็นเวลา shaping เพิ่มจาก 2 ไป 4 ms บ่งชี้ว่า ส่วนใหญ่ของแกมมาและรังสีเบต้าผลิตพัลส์ขึ้นเวลาประมาณของค่านี้ ตามที่คาดไว้ เวลาตายก็เพิ่มขึ้น ด้วย t เนื่องจากการเพิ่มขึ้นของเวลาการประมวลผลของพัลส์และเพราะ จำนวนของพัลส์ที่มีความสูงมากกว่า discriminator ระดับล่างของ ADC (ซึ่งถูกกำหนดที่ 100 mV)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ในมะเดื่อ 5A และ B รูปแบบของขสม (1) เป็นหน้าที่ของการสร้างเวลา t คงที่จะถูกนำเสนอ 3HE และ 4HE ตรวจจับตามลำดับ ทั้งสองชุดของข้อมูลในแต่ละรูปที่สอดคล้องกับกรณีที่เครื่องตรวจจับที่ถูกฉายด้วยลำแสงรังสีอิเล็กตรอน (90Sr / แหล่ง 90Y) ในทิศทางที่ตั้งฉากและขนานไปกับสายขั้วบวก ตัวเลขเดียวกันแสดงเวลาตายที่สอดคล้องกันของ ADC มีการลดลงของค่าความคมชัด B เป็นเวลาปรับเพิ่มขึ้น 2-4 MS คือแสดงให้เห็นว่าส่วนใหญ่ของแกมมาและรังสีเบต้าผลิตพัลส์ที่มีเวลาเพิ่มขึ้นประมาณของค่านี้ เป็นที่คาดหวังในเวลาตายเพิ่มสัดส่วน T เนื่องจากการเพิ่มขึ้นในเวลาที่การประมวลผลของพัลส์และยังเพราะจำนวนของพัลส์ที่มีความสูงมากกว่า discriminator ระดับที่ต่ำกว่าของ ADC (ซึ่งได้รับการตั้งค่า
ที่ 100 mV) .