XRD is a nondestructive technique•

XRD is a nondestructive technique
• To identify crystalline phases and orientation
• To determine structural properties:
Lattice parameters (10-4Å), strain, grain size,
expitaxy, phase composition, preferred orientation
(Laue) order-disorder transformation, thermal
expansion
• To measure thickness of thin films and multi-layers*
• To determine atomic arrangement
• Detection limits: ~3% in a two phase mixture; can be
~0.1% with synchrotron radiation

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

XRD เป็นเทคนิคที่ไม่ทำลาย
•ในการระบุขั้นตอนและการวางแนวผลึก
•การตรวจสอบคุณสมบัติโครงสร้าง:
พารามิเตอร์ Lattice (10-4Å) สายพันธุ์ขนาดเม็ด
expitaxy องค์ประกอบขั้นตอนการวางแนวที่ต้องการ
(Laue) การเปลี่ยนแปลงลำดับความผิดปกติของความร้อน
ขยายตัว
•ในการ วัดความหนาของฟิล์มบางและหลายชั้น *
•การตรวจสอบการจัดเรียงอะตอม
•ข้อ จำกัด การตรวจสอบ: ~ 3% ในสองส่วนผสมเฟส สามารถ
~ 0.1% ด้วยการฉายรังสีซินโคร

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

- เทคนิค XRD เป็นแบบไม่ระบุระยะผลึก
-
และการกำหนดคุณสมบัติโครงสร้างแลตทิซพารามิเตอร์ :
( 10-4 Å ) , สายพันธุ์ , เม็ดขนาด
expitaxy เฟสองค์ประกอบที่ต้องการปฐมนิเทศ
( ลัว ) ความผิดปกติของการแปลงเพื่อความร้อนขยายตัว
-
ในการวัดความหนาของฟิล์มบางและหลายชั้น *
-
- ตรวจจับการตรวจสอบอะตอม จำกัด :3 ~ % ในการผสมสองเฟส สามารถ
~ 0.1% ด้วยรังสีซินโครตรอน