With our Brucker-AXS D8 Advance 2 a

With our Brucker-AXS D8 Advance 2 axes diffractometer (fig. 2) we can provide θ,2θ-scans (fig. 3), rocking curves, etc. From the measured scans peak positions and intensities can be obtained as well as widths and FWHMs, phases can be identified, indexed and compared with the ICDD PDF data base, etc. With help of Rietveld analysis crystal structures can be identified. These way phase analysis, crystallography analysis, thin film characterization, powder characterisation, texture and residual stress investigations, etc. can be performed.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ของเรา Brucker AXS D8 ล่วงหน้า 2 แกน diffractometer (รูป 2) เราสามารถให้ค่าθ 2θ แกนเส้นโค้ง (รูป 3), โยก ฯลฯ จากการวัดแกน peak ตำแหน่ง และสามารถได้รับความเข้มเช่นเดียวกับความกว้างและ FWHMs ระยะสามารถระบุ ดัชนี และเปรียบเทียบกับ ICDD PDF ข้อมูลพื้นฐาน ฯลฯ ด้วยความช่วยเหลือของ Rietveld สามารถระบุวิเคราะห์โครงสร้างผลึก วิธีเหล่านี้ขั้นตอนวิเคราะห์ ผลิกศาสตร์วิเคราะห์ การจำแนกลักษณะของฟิล์มบาง ตรวจลักษณะเฉพาะของผง เนื้อ และสืบสวนความเค้นตกค้าง ฯลฯ สามารถดำเนินการ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กับเรา Brucker-AXS D8 ล่วงหน้า 2 แกน diffractometer (รูปที่. 2) เราสามารถให้θ, 2θสแกน (รูปที่. 3) โยกโค้ง ฯลฯ จากวัดสแกนตำแหน่งสูงสุดและความเข้มที่สามารถรับได้เช่นเดียวกับความกว้างและ FWHMs ขั้นตอนสามารถระบุการจัดทำดัชนีและเมื่อเทียบกับ ICDD ฐานข้อมูลในรูปแบบ PDF ฯลฯ ด้วยความช่วยเหลือของ Rietveld โครงสร้างการวิเคราะห์คริสตัลสามารถระบุได้ เหล่านี้การวิเคราะห์ขั้นตอนวิธีการวิเคราะห์ผลึกลักษณะฟิล์มบางลักษณะผงเนื้อและความเครียดที่เหลือสืบสวน ฯลฯ สามารถดำเนินการได้

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ล่วงหน้า d8 brucker ขวานของเรา 2 แกนดิฟแฟรกโทมิเตอร์ ( รูปที่ 2 ) เราสามารถให้θ 2 θ - สแกน ( รูปที่ 3 ) , โยกเส้นโค้ง ฯลฯ จากวัดสแกนตำแหน่งสูงสุดและความเข้มได้เช่นเดียวกับความกว้างและ fwhms , ขั้นตอนสามารถระบุดัชนีและเมื่อเทียบกับ icdd PDF ข้อมูลฐาน ฯลฯ ด้วยความช่วยเหลือของ ไรเ เวลการวิเคราะห์โครงสร้างผลึกสามารถระบุ . วิธีนี้ขั้นตอนการวิเคราะห์ฟิล์มบางลักษณะพฤกษศาสตร์ , ผง , เซลล์ , เนื้อและการสืบสวนความเค้นตกค้าง ฯลฯ สามารถดำเนินการ