and field emission scanning electro

and field emission scanning electron microscopy (SEM, Hitachi S-4700). Phase identification of the sample surface was performed by X-ray diffraction (XRD,
Thermoarl-SCINTAGX’TRAX).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

และมลพิษฟิลด์การสแกน microscopy อิเล็กตรอน (SEM ฮิตาชิ S-4700) ทำการระบุระยะของพื้นผิวตัวอย่าง โดยการเอ็กซ์เรย์การเลี้ยวเบน (XRDThermoarl-SCINTAGX'TRAX)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

และเขตการปล่อยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM ฮิตาชิ S-4700) การระบุขั้นตอนของพื้นผิวของตัวอย่างได้ดำเนินการโดย X-ray diffraction (XRD,
Thermoarl-SCINTAGX'TRAX)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

และสนามจากกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM , ฮิตาชิ s-4700 ) กำหนดระยะของพื้นผิวตัวอย่างการวิเคราะห์โดยการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์
, thermoarl-scintagx'trax )