With further improvements in the pr

With further improvements in the process technology
regarding flushing cycle times, flushing speed, servo
regulation and adaptive process control, super-finishing
of meso-micro scale surfaces using stochastic orbiting
was demonstrated. With the optimized technology, tool
wear was reduced to a few micrometres for finishing
operations. Since it was not feasible to measure surface
roughness using the tactile method for micro scale
surfaces (1mm2, 0.25mm2 and 0.09mm2), surface
roughness was measured using Alicona Infinitefocus. It
can be seen in table 2 that the meso-scale surfaces with
Ra

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ด้วยการปรับปรุงต่อไปในกระบวนการเทคโนโลยี
เกี่ยวกับระยะเวลาการทำงานล้างความเร็วล้าง, เซอร์โว
กฎระเบียบและการควบคุมกระบวนการปรับตัวซุปเปอร์ตกแต่ง
ของพื้นผิวขนาดตรงกลางขนาดเล็กโดยใช้การสุ่มโคจร
ก็แสดงให้เห็น ด้วยเทคโนโลยีการเพิ่มประสิทธิภาพเครื่องมือ
สึกหรอลดลงไปไม่กี่ไมโครเมตรในการสิ้นสุดการดำเนินงาน
เพราะมันเป็นไปไม่ได้ที่จะวัดพื้นผิว
ความหยาบโดยใช้วิธีการสัมผัสสำหรับขนาดไมโคร
พื้นผิว (1mm2, 0.25mm2 และ 0.09mm2), พื้นผิวขรุขระ
ถูกวัดโดยใช้ infinitefocus alicona
มันสามารถเห็นได้ในตารางที่ 2 พื้นผิวตรงกลางใหญ่ด้วย
รา <0.06μmได้รับการกลึง สำหรับไมโครขนาด
พื้นผิวระวัดค่าแตกต่างกันมากขึ้นอยู่กับระยะเวลาใน
ตัวอย่างที่ใช้และระยะเวลาตัดออกระ
การคำนวณแม้ว่าการลดลงของพื้นที่ผิวของอิเล็กโทรด
ผลในความจุจรจัดต่ำกว่าสูงกว่าพื้นผิวขรุขระ
ได้สำหรับพื้นผิวขนาดเล็ก
ส่วนใหญ่เกิดจากการสึกหรอที่สูงขึ้นของเครื่องมืออิเล็กโทร.

0.5513 0.5153 0.2552


0.1985 0.0688 0.0460 0.0365


.0273 0

0.1 0.2 0.3


0.4 0.5 0.6

s1 s2 s3 s4 s5 s6 s7 s8
รา (ในไมครอน)
ตัวอย่าง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

มีเพิ่มเติมปรับปรุงเทคโนโลยีกระบวนการ
เกี่ยวกับลบรอบเวลา ความเร็วในการลบ servo
ระเบียบ และการควบคุมกระบวนการปรับให้เหมาะสม ซุปเปอร์จบ
พื้นผิวเมโสหน้าไมโครสเกลใช้โคจรสโทแคสติก
ถูกแสดง เทคโนโลยีเพิ่มประสิทธิภาพ เครื่องมือ
สวมถูกลดลงเป็น micrometres บางสำหรับตกแต่ง
การดำเนินงาน เนื่องจากไม่สามารถวัดผิว
ความหยาบโดยใช้วิธีการเพราะสำหรับไมโครสเกล
พื้นผิวพื้นผิว (1mm 2, 0.25mm2 และ 0.09mm2),
ความหยาบถูกวัดโดยใช้ Alicona Infinitefocus มัน
สามารถดูได้ในตาราง 2 ที่มาตราส่วนเมโสหน้าจัดการกับ
Ra < 0.06μm มีการกลึงได้ สำหรับสเกลไมโคร
ค่า Ra วัดพื้นผิว เปลี่ยนแปลงสูงขึ้นอยู่กับ
ตัวอย่างที่ใช้ความยาวและตัดความยาวสำหรับร้า
คำนวณ แม้ว่าลดพื้นที่ผิวของการ
ผลอิเล็กโทรดล่างจรจัดความ สูง
ไมครอนจะได้ผิวไมโครสเกล
ส่วนใหญ่เนื่องจากการสึกหรอที่สูงขึ้นของเครื่องมือไฟฟ้า
0.5513
0.5153
0.2552
0.1985
0.0688
0.0460 0.0365
0.0273
0
0.1
0.2
0.3
0.4
0.5
0.6
S1 S2 S3 S4 S5 S6 S7 S8
Ra (ใน μm)
ตัวอย่าง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

พร้อมด้วยการปรับปรุงเพิ่มเติมในเทคโนโลยีการผลิตที่
ซึ่งจะช่วยในเรื่องเวลาการขจัดสิ่งสกปรกออกจาก,แบบใดก็ได้ทั้งหมดรองรับงาน Super - การตกแต่ง
ของ meso - พื้นผิวขนาดเล็กโดยใช้ความเร็ว(ห้ามล้อ
ซึ่งจะช่วยขจัดสิ่งสกปรกออกจากกฎระเบียบและขั้นตอนการปรับการควบคุมโคจร
ซึ่งจะช่วยได้แสดงให้เห็นถึง พร้อมด้วยเทคโนโลยีซึ่งได้รับการปรับแต่งด้านเครื่องมือ
สวมใส่ก็ลดลงเหลือเพียงไม่กี่ micrometres ที่สำหรับการตกแต่ง
การทำงาน นับตั้งแต่ที่มันก็ไม่ได้เป็นไปได้ในการวัดพื้นผิว
ตามมาตรฐานรุนแรงโดยใช้วิธีสัมผัสจับต้องได้สำหรับไมโครขนาด
พื้นผิว( 1 มม. 2 0.25 มม. 2 และ 0.09 มม. 2 )บนพื้นผิว
รุนแรงวัดได้โดยใช้ alicona infinitefocus
ซึ่งจะช่วยให้สามารถที่จะเห็นได้จากตารางที่ 2 ที่พื้นผิว meso ที่พร้อมด้วยμ m
RA < 0.06 มีการรุนแรงมาก สำหรับ micro - ปรับพื้นผิว
ซึ่งจะช่วยให้ค่ากงหราวัดได้แตกต่างกันไปได้ขึ้นอยู่กับ
ที่ใช้ความยาวความยาวและลิ้มลองตัดการคำนวณกงหรา
แม้ว่าจะลดลงในพื้นผิวของพื้นที่ที่
เชื่อมสายเรียกซ้อนลดลงผลการเก็บประจุในที่สูงกว่าพื้นผิวขรุขระ
ซึ่งจะช่วยได้รับของ Micro ขนาดพื้นผิว
เนื่องจากการสูงสวมใส่ของซึ่งเป็นเครื่องมือเชื่อม.

0.5153 0.5513

0.1985 0.2552 0.0688


0.0273 0.0460 0.0365
0

0.2 0.1 0.3


0.5 0.4 0.6

S 1 S 2 S 3 S 4 S 5 S 6 S 7 S 8
กงหรา(ในμ m )
ตัวอย่าง