Scanning electron microscopy (SEM)

Scanning electron microscopy (SEM) was used to examine the structure of the fracture surface and to justify the variation of the measured mechanical properties.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ถูกใช้ เพื่อตรวจสอบโครงสร้างของผิวหน้าแตกหัก และ เพื่อแสดงให้เห็นถึงการเปลี่ยนแปลงของคุณสมบัติทางกลวัด

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) ถูกนำมาใช้ในการตรวจสอบโครงสร้างของพื้นผิวการแตกหักและเพื่อแสดงให้เห็นถึงการเปลี่ยนแปลงของสมบัติเชิงกลที่วัดได้

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) ถูกใช้ในการตรวจสอบโครงสร้างของพื้นผิวการแตกหักและการปรับรูปแบบของการวัดสมบัติเชิงกล .