According to experiment that suspec

According to experiment that suspected most likely cause remained Sawn wafer hit lens during move out from microscope.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ตามการทดลองที่น่าสงสัยมากที่สุดสาเหตุยังคง Sawn เวเฟอร์ตีเลนส์ในระหว่างย้ายออกจากกล้องจุลทรรศน์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ตามการทดลองที่สงสัยว่าสาเหตุส่วนใหญ่ยังคงแปรรูปเวเฟอร์ตีย้ายออกจากเลนส์ในกล้องจุลทรรศน์