ZnO films were deposited on the O2

ZnO films were deposited on the O2 plasma treated polyethersulfone (PES) substrates by atomic layer deposition. X-ray diffraction (XRD) measurements reveals that the grains in ZnO films show strongly (0 0 2) preferential orientation, when the duration of plasma pretreatment increases. The decreased grain size and improved crystallinity results in the decreased surface roughness of ZnO films. In contrast, when the duration of plasma pretreatment increases to 60 min, the surface roughness increases again due to the increased grain size and worse crystallinity. In photoluminescence measurement, slight blue shift of near-band-edge emission occurs with increasing duration of plasma pretreatment up to 30 min.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ฟิล์ม ZnO ได้ฝากบนพื้นผิว polyethersulfone (PES) พลาสมาถือ O2 โดยสะสมชั้นอะตอม วัดการเลี้ยวเบนการเอ็กซ์เรย์ (XRD) พบว่า ธัญพืชในฟิล์ม ZnO แสดงอย่างยิ่ง (0 0 2) ต้องวางแนว เมื่อระยะเวลาของพลาสม่า pretreatment เพิ่ม ขนาดเมล็ดลดลงและปรับปรุง crystallinity ผลลัพธ์ในความหยาบผิวที่ลดลงของฟิล์ม ZnO ในทางตรงกันข้าม เมื่อระยะเวลาของพลาสม่า pretreatment เพิ่มให้ 60 นาที ความหยาบผิวเพิ่มอีกเม็ดเพิ่มขนาดและ crystallinity แย่ ในวัด photoluminescence กะสีฟ้าเล็กน้อยของมลพิษใกล้วงขอบเกิดขึ้น ด้วยการเพิ่มระยะเวลาของพลาสม่า pretreatment ถึง 30 นาที

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ฟิล์มซิงค์ออกไซด์ถูกวางลงบนพลาสม่าได้รับการรักษา O2 polyethersulfone (PES) พื้นผิวจากการทับถมชั้นอะตอม X-ray diffraction (XRD) การตรวจวัดพบว่าเมล็ดในภาพยนตร์ ZnO แสดงอย่างยิ่ง (0 0 2) การวางแนวทางให้สิทธิพิเศษเมื่อระยะเวลาของการเพิ่มขึ้นของการปรับสภาพพลาสม่า ขนาดของเมล็ดข้าวลดลงและผลผลึกที่ดีขึ้นในพื้นผิวที่ขรุขระลดลงของฟิล์มซิงค์ออกไซด์ ในทางตรงกันข้ามเมื่อระยะเวลาของการเพิ่มขึ้นของการปรับสภาพพลาสม่า 60 นาที, การเพิ่มขึ้นของความขรุขระของผิวอีกครั้งเนื่องจากขนาดของเมล็ดข้าวที่เพิ่มขึ้นและผลึกที่เลวร้ายยิ่ง ในการวัด photoluminescence กะสีฟ้าเล็กน้อยของการปล่อยก๊าซที่อยู่ใกล้ขอบวงเกิดขึ้นกับระยะเวลาที่เพิ่มขึ้นของการปรับสภาพพลาสม่าได้ถึง 30 นาที

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ฟิล์มซิงค์ออกไซด์ถูกฝากไว้บน O2 พลาสมาถือว่าโพลี เทอร์ซัลโฟน ( PES ) พื้นผิวโดยการสะสมชั้นอะตอม การวัดการเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ พบว่าธัญพืชในซิงค์ออกไซด์ฟิล์มแสดงอย่างยิ่ง ( 0 รึเปล่า 0 ไหม 2 ) พิเศษการปฐมนิเทศ เมื่อระยะเวลาของพลาสม่า การเพิ่มขึ้น การลดขนาดเกรนและการปรับปรุงผลลัพธ์ในการลดความขรุขระพื้นผิวผลึกของซิงค์ออกไซด์ฟิล์มในทางตรงกันข้าม เมื่อระยะเวลาของการเพิ่มพลาสมา 60 มั้ย มิน , ความหยาบผิวเพิ่มอีกเนื่องจากการเพิ่มขึ้นของขนาดเกรนและผลึก และแย่ลง . ในการวัดแบบเล็กน้อยใกล้ขอบวงสีฟ้ากะการเพิ่มระยะเวลาของการเกิดพลาสมาถึง 30 มั้ยคะ