Coating topography wasanalyzed usin

Coating topography was
analyzed using a 3D stylus profilometer and other analytical techniques (SEM, FIB).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เคลือบถือเป็นวิเคราะห์โดยใช้ profilometer สไตลัส 3D และเทคนิควิเคราะห์ (SEM ตอแหล)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ภูมิประเทศเคลือบได้รับการ
วิเคราะห์โดยใช้สไตลัส 3D Profilometer และเทคนิคการวิเคราะห์อื่น ๆ (SEM, FIB)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เคลือบภูมิประเทศคือ
วิเคราะห์โดยใช้เทคนิคการวิเคราะห์ profilometer 3D สไตลัสและอื่น ๆ ( SEM , FIB )