In addition to monitoring the therm

In addition to monitoring the thermoelectric and optoelectronic properties through careful control of the processing parameters, successful fabrication of devices based on bi2Te3 thin film also requires better understanding of the mechanical properties since the contact loading during processing or/and packaging can significantly degrade the performance of these devices. Therefore, there is a growing demand of investigating the mechanical characteristics of materials, in particular in the nanoscale regime.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

นอกเหนือจากการตรวจสอบคุณสมบัติแบบเทอร์โมอิเล็กทริกส์และควบคุมผ่านการระวังควบคุมพารามิเตอร์การประมวลผล ผลิตสำเร็จอิง bi2Te3 ฟิล์มบางอุปกรณ์ยังต้องเข้าใจคุณสมบัติทางกลดีกว่าตั้งแต่ติดต่อที่โหลดระหว่างการประมวลผล หรือ / และบรรจุภัณฑ์อย่างมีนัยสำคัญสามารถลดทอนประสิทธิภาพของอุปกรณ์เหล่านี้ ดังนั้น มีความต้องการที่เพิ่มขึ้นของการตรวจลักษณะทางกลของวัสดุ โดยเฉพาะอย่างยิ่งในระบอบการปกครอง nanoscale

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

นอกเหนือไปจากการตรวจสอบคุณสมบัติของเทอร์โมและ optoelectronic ผ่านการควบคุมอย่างระมัดระวังของพารามิเตอร์ในการประมวลผลการผลิตที่ประสบความสำเร็จของอุปกรณ์ที่อยู่บนพื้นฐานของฟิล์มบาง bi2Te3 ยังต้องมีความเข้าใจที่ดีขึ้นของสมบัติเชิงกลตั้งแต่โหลดการติดต่อระหว่างการประมวลผลและ / หรือบรรจุภัณฑ์อย่างมีนัยสำคัญสามารถลดประสิทธิภาพการทำงานของ อุปกรณ์เหล่านี้ ดังนั้นจึงมีความต้องการที่เพิ่มขึ้นของการตรวจสอบลักษณะทางกลของวัสดุโดยเฉพาะอย่างยิ่งในระบอบการปกครองระดับนาโน