The XPS data were acquired using a

The XPS data were acquired using a bespoke ultra-high vacuum system fitted with a Specs GmbH Focus 500 monochromated Al Ka X-ray source, Specs GmbH Phoibos 150 mm mean radius hemispherical analyser with 9-channeltron detection, and a Specs GmbH FG20 charge neutralising electron gun. Survey spectra were acquired over the binding energy range 1100e0 eV using a pass energy of 50 eV and high resolution scans were made over the C 1s,O 1s, S 2p and F 1s lines using a pass energy of 15 eV. In each case,the analysiswas an area-average over a region approximately 2mm in diameter on the sample surface. The monochromator X-ray
source was operated at a reduced power of 12 kV 15 mA (180 W) compared to the manufacturer's recommended maximum of 15 kV 26.6 mA (400 W) to reduce the possibility of X-ray induced degradation during analysis. Note also that in this design of system, the X-ray source is remote from the sample by approximately 1 m and so there are no thermal- or Bremsstrahlung-induced degradation effects. Charge compensation was by a low energy (5 eV) electron flood, and spectra were charge corrected to the hydrocarbon CeC component of the C 1s peak at 285.0 eV. The energy scale of the instrument is calibrated according to ISO standard 15472, and the intensity scale is calibrated using an in-house method traceable to the UK National Physical Laboratory. The information depth in XPS analysis is normally taken as three times the effective electron attenuation length, typically 3e3.5 nm for the C 1s line in organic materials, and was therefore approximately 10 nm in the measurements reported here. Quantification data used in this paper were obtained from the high resolution data.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ข้อมูล XPS ที่ได้รับมาใช้ตามสูงสูญญากาศระบบพร้อมสเปค GmbH โฟกัส 500 monochromated Al Ka X-ray แหล่ง สเปค GmbH Phoibos 150 มม.หมายถึง รัศมีครึ่งวงกลมวิเคราะห์ตรวจจับ 9 channeltron และสเปค GmbH FG20 ค่า neutralising ปืนอิเล็กตรอน สำรวจสเปกตรัมได้รับมามากกว่าพลังงานยึดเหนี่ยวช่วง 1100e0 eV ใช้พลังงานผ่านการสูง และ 50 eV ความละเอียดทำการสแกนผ่าน C 1s, O 1s, S 2p และ F 1s บรรทัดโดยใช้พลังงานผ่านของ 15 eV ในแต่ละกรณี analysiswas เฉลี่ยพื้นที่เหนือเขตประมาณ 2 มม.เส้นผ่านศูนย์กลางบนพื้นผิวตัวอย่าง Monochromator X-raysource was operated at a reduced power of 12 kV 15 mA (180 W) compared to the manufacturer's recommended maximum of 15 kV 26.6 mA (400 W) to reduce the possibility of X-ray induced degradation during analysis. Note also that in this design of system, the X-ray source is remote from the sample by approximately 1 m and so there are no thermal- or Bremsstrahlung-induced degradation effects. Charge compensation was by a low energy (5 eV) electron flood, and spectra were charge corrected to the hydrocarbon CeC component of the C 1s peak at 285.0 eV. The energy scale of the instrument is calibrated according to ISO standard 15472, and the intensity scale is calibrated using an in-house method traceable to the UK National Physical Laboratory. The information depth in XPS analysis is normally taken as three times the effective electron attenuation length, typically 3e3.5 nm for the C 1s line in organic materials, and was therefore approximately 10 nm in the measurements reported here. Quantification data used in this paper were obtained from the high resolution data.

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

The XPS ข้อมูลโดยใช้ระบบสูญญากาศสูงพิเศษ Bespoke พอดีกับรายละเอียด GmbH โฟกัส 500 monochromated อัลคาแหล่งกำเนิดรังสีเอ็กซ์ , รายละเอียด GmbH phoibos 150 มม. หมายความว่ารัศมีครึ่งวงกลม วิเคราะห์ด้วยการตรวจหา 9-channeltron และรายละเอียดค่าใช้จ่าย neutralising GmbH fg20 ปืนอิเล็กตรอน . สเปกตรัมที่สำรวจได้มากว่าผูกช่วงพลังงาน 1100e0 EV ใช้ผ่านพลังงานของ EV 50 และการสแกนความละเอียดสูงได้มากกว่า C 1s 1s , O , S 2p และ F 1s เส้นโดยใช้ผ่านพลังงาน 15 EV ในแต่ละกรณี และพื้นที่เฉลี่ยเกินพื้นที่ประมาณ 2 มิลลิเมตรในเส้นผ่าศูนย์กลางบนพื้นผิวตัวอย่าง ที่โมโนโครเมเตอร์เอกซเรย์ดำเนินการในแหล่งพลังงานลดลง 12 มา 15 กิโล ( 180 W ) เทียบกับของผู้ผลิตแนะนำสูงสุดมา 15 กิโล 26.6 ( 400 W ) เพื่อลดความเป็นไปได้ของรังสีเอกซ์กระตุ้นการย่อยสลายในการวิเคราะห์ นอกจากนั้น ในการออกแบบระบบ แหล่งกำเนิดรังสี - x เป็นห่างไกลจากตัวอย่างประมาณ 1 เมตร และมีความร้อน - หรือเบรมส์ชตราลุงกระตุ้นการย่อยสลายพิเศษ ชดเชยค่าใช้จ่ายได้ โดยพลังงานต่ำ ( 5 EV ) อิเล็กตรอนถูกน้ำท่วม และให้คิดแก้ไขเพื่อหาส่วนประกอบของไฮโดรคาร์บอน C 1s สูงสุดที่ 285.0 EV พลังงานมาตราส่วนของเครื่องมือสอบเทียบตามมาตรฐาน ISO 15472 และความรุนแรงคือการปรับขนาดในบ้านวิธีสูงสหราชอาณาจักรแห่งชาติทางห้องปฏิบัติการ ข้อมูลเชิงลึกในการวิเคราะห์ XPS เป็นปกติถ่ายเป็น 3 เท่าของอิเล็กตรอนที่มีความยาว nm โดยทั่วไป 3e3.5 สำหรับ C 1s บรรทัดในวัสดุอินทรีย์และจึงประมาณ 10 nm ในการวัดรายงานที่นี่ ปริมาณข้อมูลที่ใช้ในงานวิจัยนี้ได้มาจากข้อมูลความละเอียดสูง