TEM micrographs were acquired on a

TEM micrographs were acquired on a transmission electron microscope (JEM-2100, JEOL, Japan) with an accelerating voltage of 100–120kV in conjunction with selected area electron diffraction (SAED). SEM micrographs were obtained using a scanning electron microscope (JSM-6400, JEOL, Japan) with an accelerating voltage of 15kV. A drop of the nanoparticle suspension was placed on a glass slide and dried overnight. After mounting the slide on aluminum pin,thesamplewascoatedwithagoldlayerundervacuumat20kV for 90s. The coated sample was then mounted on an SEM stud for visualization. For both SEM and TEM, the micrographs shown are representative of at least 6 fields of view per sample, and 3 independent samples.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

TEM micrographs ได้รับมาในการส่งผ่านอิเล็กตรอน (JEM-2100 ญี่ปุ่น JEOL) กับแรงดันไฟฟ้า 100-120kV ร่วมกับการเลี้ยวเบนของแสงอิเล็กตรอนการเลือกตั้ง (SAED) เร่งการ SEM micrographs รับใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (JSM-6400 ญี่ปุ่น JEOL) แรงดันไฟฟ้าการเร่งของ 15 kv การลดลงของการระงับ nanoparticle สูงวางบนสไลด์แก้ว และแห้ง หลังจากติดตั้งภาพนิ่งบนหมุดอลูมิเนียม thesamplewascoatedwithagoldlayerundervacuumat20kV สำหรับ 90s ตัวเคลือบแล้วเมาต์บนแกน SEM สำหรับการแสดง สำหรับ SEM และ TEM, micrographs ที่แสดงเป็นตัวแทนของ fields น้อย 6 ของแต่ละตัวอย่าง ตัวอย่างอิสระ 3

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ไมโคร TEM ได้มาบนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (JEM-2100, JEOL ญี่ปุ่น) ที่มีแรงดันไฟฟ้าเร่ง 100-120kV ร่วมกับพื้นที่ที่เลือกอิเล็กตรอนเลนส์ (Saed) จาก SEM ได้รับโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (JSM-6400, JEOL ญี่ปุ่น) ที่มีแรงดันไฟฟ้าเร่ง 15KV ลดลงของการระงับอนุภาคนาโนถูกวางลงบนสไลด์แก้วและแห้งในชั่วข้ามคืน หลังจากติดตั้งภาพนิ่งบนอลูมิเนียมขา thesamplewascoatedwithagoldlayerundervacuumat20kV สำหรับ 90s กลุ่มตัวอย่างที่ใช้เคลือบถูกติดตั้งแล้วบนสตั๊ด SEM สำหรับการแสดง สำหรับทั้ง SEM และ TEM, ไมโครที่แสดงเป็นตัวแทนของอย่างน้อย 6 elds Fi ของมุมมองต่อตัวอย่างและ 3 กลุ่มที่เป็นอิสระ