SEM uses focused beam of electrons

SEM uses focused beam of electrons which produces
images of a sample by scanning it. The polishing of surface
is done to make it conductive. The polished specimen
was used to contemplate clay dispersion at different
magnification. Figure 2 shows the SEM micrograph of nano filled GFRP composites resulting in homogeneous
distribution of the reinforcement in the matrix3.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เน้นการใช้ SEM ลำแสงอิเล็กตรอนซึ่งก่อให้เกิดภาพตัวอย่างโดยการสแกน ขัดผิวจะทำให้นำไฟฟ้า ชิ้นงานสวยงามใช้ในการคิดการกระจายตัวของดินที่แตกต่างกันขยาย รูปที่ 2 แสดงเต็มบอร์ด SEM ของนาโนคอมโพสิต GFRP ในเนื้อเดียวกันการกระจายของเหล็กเสริมในการ matrix3

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

SEM ใช้ลำแสงเน้นของอิเล็กตรอนซึ่งเป็นผู้ผลิต
ภาพของตัวอย่างโดยการสแกน ขัดผิว
จะทำที่จะทำให้มันเป็นสื่อกระแสไฟฟ้า ตัวอย่างที่ขัด
ถูกใช้ในการพิจารณาการกระจายตัวของดินที่แตกต่างกัน
การขยาย รูปที่ 2 แสดง micrograph SEM นาโนคอมโพสิตเต็มไป GFRP ผลในการเป็นเนื้อเดียวกัน
การกระจายของการเสริมแรงใน matrix3

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

ซึ่งใช้ลำแสงของอิเล็กตรอนที่ผลิตโฟกัสภาพตัวอย่างโดยการสแกนมัน การขัดผิวเสร็จแล้วให้นำ . ตัวขัดเคยคิดกระจายดินที่แตกต่างกันขยาย . รูปที่ 2 แสดงลักษณะของนาโนคอมโพสิตแบบเต็ม gfrp ที่เกิดในเนื้อเดียวกันการกระจายของเหล็กเสริมใน matrix3 .