AbstractThe present study evaluates

Abstract
The present study evaluates the effect of dry grinding on the physicochemical properties of silica materials prepared from kaolin residue. The kaolin residue was ground at varying times and then treated with sulfuric acid (20 mass%) at 100 °C for 2 h. X-ray diffraction, scanning electron microscopy, Fourier transformation infrared spectroscopy, and N2 adsorption techniques were used to examine the effect of grinding on the raw materials and products. The SiO2 content was also analyzed to compare with the raw materials. The degree of amorphization calculated from X-ray diffraction (XRD) data of silica increased with grinding time. The band intensities of Sisingle bondOsingle bondAl and Alsingle bondOH were decreased by the grinding process, which was beneficial to the subsequent leaching. Morphologic and structural studies revealed that the crystalline structure of kaolin residue was destroyed during grinding. The SiO2 content of ground leached samples varied with grinding time, and the maximum value was above 92%. Grinding caused the surface area of the silica to increase to 167.84 m2/g, but decrease with longer grinding time. The formation of micropores contributed to the increase of the surface area. Structural breakdown by grinding is considered as the main reason for the enhancement of leaching behavior and improvement of the SiO2 content and porous properties.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

บทคัดย่อการศึกษานำเสนอประเมินผลแห้งบดในคุณสมบัติของวัสดุซิลิกาที่เตรียมจากสารตกค้าง kaolin physicochemical สารตกค้าง kaolin ดินเวลาแตกต่างกันแล้ว รักษา ด้วยกรดซัลฟิวริก (20 มวล%) ที่ 100 ° C สำหรับ 2 h. เอกซเรย์การเลี้ยวเบน แกนอิเล็กตรอน microscopy ฟูรีเยแปลงอินฟราเรดก และ N2 ดูดซับเทคนิคใช้ในการตรวจสอบผลของการบดวัตถุดิบและผลิตภัณฑ์ ยังมีวิเคราะห์เนื้อหา SiO2 เพื่อเปรียบเทียบกับวัตถุดิบ เพิ่มระดับของ amorphization ที่คำนวณได้จากข้อมูลการเลี้ยวเบนการเอ็กซ์เรย์ (XRD) ของซิลิกา ด้วยคัฟเวลา ปลดปล่อยก๊าซวง Sisingle bondOsingle bondAl และ Alsingle bondOH ถูกลดลงโดยกระบวนการบด ซึ่งมีประโยชน์ต่อละลายตามมา Morphologic และโครงสร้างการศึกษาเปิดเผยว่า โครงสร้างผลึกของสารตกค้าง kaolin ถูกทำลายในระหว่างการบด เนื้อหา SiO2 ภาคพื้น leached ตัวอย่างที่แตกต่างกันกับเวลาบด และมีค่าสูงสุดเหนือ 92% บดทำให้พื้นที่ผิวของซิลิกาเพื่อเพิ่มการ 167.84 m2/g แต่เวลาบดลด ด้วยอีกต่อไป การก่อตัวของ micropores ส่วนการเพิ่มพื้นที่ผิว แบ่งโครงสร้าง โดยบดถือว่าเป็นเหตุผลหลักของการละลายพฤติกรรมและการปรับปรุงของ SiO2 porous และเนื้อหา

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

บทคัดย่อ
การศึกษาครั้งนี้จะประเมินผลกระทบของการบดแห้งที่มีต่อสมบัติทางเคมีกายภาพของวัสดุซิลิกาที่เตรียมจากสารตกค้างดินขาว สารตกค้างดินขาวถูกพื้นดินที่แตกต่างกันครั้งและได้รับการรักษาแล้วด้วยกรดกำมะถัน (20% มวล) ที่ 100 องศาเซลเซียสเป็นเวลา 2 ชั่วโมง X-ray diffraction สแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแปลงฟูริเยร์อินฟราเรดและเทคนิคการดูดซับ N2 ถูกนำมาใช้ในการตรวจสอบผลของการบดวัตถุดิบและผลิตภัณฑ์ เนื้อหา SiO2 วิเคราะห์ยังเปรียบเทียบกับวัตถุดิบ ระดับของ amorphization คำนวณจาก X-ray diffraction (XRD) ข้อมูลของซิลิกาที่เพิ่มขึ้นด้วยเวลาบด ความเข้มของวง Sisingle bondOsingle bondAl และ Alsingle bondOH ลดลงโดยกระบวนการบดซึ่งเป็นประโยชน์ต่อการชะล้างที่ตามมา รูปร่างและการศึกษาโครงสร้างเปิดเผยว่าโครงสร้างผลึกของสารตกค้างดินขาวถูกทำลายในระหว่างการบด เนื้อหา SiO2 จากพื้นดินถูกชะล้างตัวอย่างที่แตกต่างกันด้วยเวลาบดและค่าสูงสุดสูงกว่า 92% บดที่เกิดจากพื้นที่ผิวของซิลิกาจะเพิ่มขึ้นถึง 167.84 m2 / g แต่ลดลงด้วยเวลาบดอีกต่อไป การก่อตัวของ micropores ส่วนร่วมในการเพิ่มพื้นที่ผิว รายละเอียดโครงสร้างโดยการบดถือเป็นเหตุผลหลักสำหรับการเพิ่มประสิทธิภาพของพฤติกรรมการชะล้างและการปรับปรุงเนื้อหา SiO2 และคุณสมบัติที่มีรูพรุน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

นามธรรม
การศึกษาประเมินผลของการบดแห้งต่อคุณสมบัติทางกายภาพและทางเคมีของวัสดุที่เตรียมจากซิลิกา ดินขาว กาก ดินขาวดินตกค้างในช่วงเวลาที่แตกต่างและการรักษาด้วยกรดซัลฟูริค ( 20 มวล % ) 100 ° C เป็นเวลา 2 ชั่วโมง เทคนิคการเลี้ยวเบนรังสีเอ็กซ์กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนชนิดส่องกราด การแปลงฟูรีเยอินฟราเรดสเปกโทรสโคปีและเทคนิคในการดูดซับไนโตรเจน ถูกใช้เพื่อตรวจสอบผลของการบดในวัตถุดิบและผลิตภัณฑ์ ส่วนเนื้อหาก็วิเคราะห์ SiO2 เปรียบเทียบกับวัตถุดิบ ระดับของ amorphization คำนวณจากข้อมูลการเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ของซิลิกาเพิ่มขึ้น ด้วยคัฟ .