The signals from inner slits of the

The signals from inner slits of the probe are used for
alignment of the probe and also to characterise the electron beam

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สัญญาณจากสลิตภายในหัววัดที่ใช้สำหรับการจัดตำแหน่ง ของหัววัด และลำอิเล็กตรอนภายใน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สัญญาณจากช่องด้านในของการสอบสวนที่ใช้สำหรับ
การจัดตำแหน่งของการสอบสวนและยังจะอธิบายลักษณะลำอิเล็กตรอน

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สัญญาณจากภายในช่องของการสอบสวนจะใช้สำหรับการสอบสวนและยังชันลำแสงอิเล็กตรอน