A small drop of the sample solution at a desired temperature measurement was performed on Nanoscope IV Digital Instru-ment equipped with a silicon cantilever and E-type vertical engage piezoelectric scanner
A หยาดของการแก้ปัญหาตัวอย่างที่อุณหภูมิต้อง วัดทำตามติด Nanoscope IV ดิจิตอล Instru-ขัด cantilever ซิลิคอนและแนวตั้งชนิด E ต่อสู้ piezoelectric สแกนเนอร์