Comparison of recrystallization sen

Comparison of recrystallization sensitivity of deformed samples annealed at 1290 °C, (b–e) the corresponding RX microstructure of compressed samples annealed at 1290 °C, (b) 850 °C, (c) 980 °C, (d) 1070 °C, and (e) 1100 °C. Inverse pole figure (IPF) legend is inserted in the right bottom of figure (e).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เปรียบเทียบความไว锛พิการอย่างอบที่ 1290 ° C จุลภาค (b – e) RX ที่สอดคล้องกันอย่างบีบอัดอบที่ 1290 ° C, (b) 850 ° C, (ค) 980 ° C ° C 1070 (d) และ (e) 1100 องศาเซลเซียส ตำนานเสาผกผัน figure (IPF) ใส่ในด้านล่างขวาของ figure (e)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การเปรียบเทียบความไว recrystallization ตัวอย่างพิการอบ 1,290 ° C (b-E) ที่สอดคล้องจุลภาค RX ตัวอย่างบีบอัดอบ 1,290 ° C (ข) 850 ° C (ค) 980 ° C (D) 1,070 ° C, และ (จ) 1,100 ° C ผกผันเสา Fi Gure (IPF) ตำนานจะแทรกอยู่ในด้านล่างขวาของ Fi Gure (E)