Microstructure propertiesThe cracke

Microstructure properties
The crackers were cut and mounted on aluminum stubs using
double adhesive tape. The samples were sputter-coated with
gold–palladium to render thermoelectrically conductive by
using (Edwards S150A Sputter Coating Device) and then
scanned using JXA-840A scanning electron microscope
(JEOL, Tokyo-Japan). The micrographs were taken at magnification
of 50· for the surface and cross section parts of the
crackers.

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

คุณสมบัติจุลภาค
กะเทาะถูกตัดและติดตั้งอยู่บนต้นขั้วอลูมิเนียมโดยใช้
เทปกาวสอง ตัวอย่างที่ถูกพ่นเคลือบด้วย
ทองแพลเลเดียมจะทำให้ thermoelectrically สื่อกระแสไฟฟ้าโดย
ใช้ (เอ็ดเวิร์ด S150A พ่นเคลือบอุปกรณ์) และจากนั้น
สแกนโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด JXA-840A
(JEOL โตเกียวญี่ปุ่น) ถูกนำกล้องจุลทรรศน์ที่กำลังขยาย
50 ·สำหรับพื้นผิวและชิ้นส่วนตัดขวางของ
แครกเกอร์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

คุณสมบัติโครงสร้างกรอบอลูมิเนียมที่ถูกตัดและติดบนบัตรโดยใช้
เทปกาวสองหน้า จำนวนมิดหมีเคลือบทองเพื่อให้ thermoelectrically
แพลเลเดียมซึ่งนำโดย
ใช้ ( เอ็ดเวิร์ด s150a ละล่ำละลักอุปกรณ์เคลือบ ) แล้ว

jxa-840a สแกนสแกนโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน ( จอล โตเกียวญี่ปุ่น ) การ micrographs ถ่ายที่ขยาย
50 ด้วย สำหรับพื้นผิวและรูปตัดส่วนของ
แครกเกอร์