Transmissionelectron microscope (TE

Transmission
electron microscope (TEM) measurements were carried out
using a JEM-1200EX TEM instrument working at an accelerating
voltage of 80 kV. AC and AgAC morphology was observed by
using a Hitachi S-4700 field emission-scanning electron microscope
(FE-SEM)

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ส่ง
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (ยการ) วัดได้ดำเนินการ
ใช้เครื่องมือ JEM 1200EX ยการทำงานที่มีมาตรฐานอุตสห
แรง 80 kV สัณฐานวิทยาของ AC และ AgAC ถูกตรวจสอบโดย
ใช้อิเล็กตรอน microscope
(FE-SEM) เป็นฮิตาชิ S-4700 มลพิษฟิลด์การสแกน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การส่งผ่าน
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (TEM) วัดได้ดำเนินการ
โดยใช้เครื่องมือ JEM-1200EX TEM ทำงานที่เร่งตัวขึ้น
แรงดันไฟฟ้าของ 80 กิโลโวลต์ AC และต้นไม้สัณฐานเป็นที่สังเกตโดย
ใช้ฮิตาชิ S-4700 ข้อมูลการปล่อยสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน
(FE-SEM)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนเกียร์
( TEM ) วัดได้ทดลองใช้เครื่องมือ jem-1200ex เต็มๆ

ทำงานเร่งแรงดัน 80 กิโล . AC และ agac สัณฐาน สังเกตได้จากการจัดเก็บข้อมูลการ s-4700

( fe-sem ) กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน