The ferroelectric properties were m

The ferroelectric properties were measured
with using a Sawyer Tower circuit. Microstructure of the samples was investigated by a
scanning electron microscope (SEM).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

มีวัดคุณสมบัติ ferroelectricใช้วงจรทาวเวอร์ Sawyer ต่อโครงสร้างจุลภาคของตัวอย่างถูกตรวจสอบโดยการการสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

คุณสมบัติ ferroelectric
ถูกวัดด้วยการใช้วงจรทาวเวอร์เลื่อย จุลภาคของกลุ่มตัวอย่างถูกตรวจสอบโดยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

คุณสมบัติเฟอร์โรอิเล็กทริกชนิด
ใช้เลื่อยหอคอยวงจร โครงสร้างของตัวอย่างที่ถูกตรวจสอบโดยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบสแกน ( SEM )
.