X-ray diffraction (XRD) was carried

X-ray diffraction (XRD) was carried out using a
D/max 2400 diffractometer working at 0.15418 nm to
determine the phase of the products. The microstructures
and morphologies of the obtained nanowires
were investigated by scanning electron microscopy
(SEM, Zeiss Supra 35) and transmission electron microscopy
(TEM, JEOL 2100) equipped with an Oxford
Link ISIS energy dispersive X-ray spectroscopy
(EDS) system.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

การเลี้ยวเบนการเอ็กซ์เรย์ (XRD) ถูกดำเนินการโดยใช้การD/สูง สุด 2400 diffractometer 0.15418 nm เพื่อกำหนดขั้นตอนของผลิตภัณฑ์ Microstructuresและ morphologies ของ nanowires ได้รับถูกสอบสวน โดยสแกน microscopy อิเล็กตรอน(SEM, Zeiss Supra 35) และส่งอิเล็กตรอน microscopy(ยการ JEOL 2100) พร้อมออกซ์ฟอร์ดเชื่อมโยงพลังงาน ISIS ที่ dispersive กเอ็กซ์เรย์ระบบ (EDS)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ พบการใช้
D / สูงสุด 2400 ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ทำงานที่ 0.15418 nm

กำหนดขั้นตอนของผลิตภัณฑ์ โครงสร้างและลักษณะโครงสร้างของนาโน

ได้ศึกษาโดยการสแกน
อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM , Zeiss Supra 35 ) และกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนจุลทรรศน์
( ประทับ , จอล 2100 ) พร้อมกับฟอร์ด
ลิงค์ซิสพลังงานกระจายตัวเอกซ์เรย์
( EDS ) ระบบ