Figure 5. Transient photovoltage/ph

Figure 5. Transient photovoltage/photocurrent decay and charge-extraction investigation of various devices: (a) open-circuit voltage (Voc) as a function of density of state (DOS) and (b) hole lifetime vs charge density (nt).

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

รูปที่ 5 Photovoltage photocurrent ชั่วคราวผุและแยกค่าธรรมเนียมการตรวจสอบอุปกรณ์ต่าง ๆ: แรงดัน (ก) วงจรเปิด (Voc) เป็นฟังก์ชันของความหนาแน่นของสถานะ (DOS) และ (ข) หลุมอายุการใช้งานเทียบกับค่าความหนาแน่น (nt)

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

รูปที่ 5 ชั่​​วคราว photovoltage / ผุ photocurrent และการตรวจสอบค่าใช้จ่ายสกัดของอุปกรณ์ต่างๆ (ก) แรงดันไฟฟ้าวงจรเปิด (Voc) เป็นหน้าที่ของความหนาแน่นของรัฐ (DOS) และ (ข) อายุการใช้งานหลุมเทียบค่าความหนาแน่น (เอ็นที)

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

รูปที่ 5 แบบชิ้นงาน / บูบูผุและการสกัดการชาร์จอุปกรณ์ต่าง ๆ คือ ( 1 ) แรงดันไฟฟ้าวงจรเปิด ( VOC ) เป็นฟังก์ชันความหนาแน่นของสถานะ ( DOS ) และ ( ข ) หลุมตลอดชีวิต vs ความหนาแน่นประจุ ( NT )