ystallinity of the as-synthesized Y

ystallinity of the as-synthesized Y zeolite was studied by means of a STOE STAD-MP x-ray diffractometer (XRD) using Cu (Kα) at 40 kV and 30 mA.Morphology and size of the nanozeolite spheres, the as-synthesized nanozeolites and commercial NaY zeolite (i.e. CPA100) were studied by means of a Philips XL 30 scanning electron microscope (SEM) which was equipped with an energy dispersive x-ray analysis system (EDX) to measure the Si/Al ratio of the zeolitic samples.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ศึกษาความเป็นผลึกของ Y ซีโอไลต์ที่สังเคราะห์ขึ้นโดยใช้เครื่องเอ็กซเรย์ดิฟแฟรกโตมิเตอร์ (XRD) ของ STOE STAD-MP โดยใช้ Cu (Kα) ที่ 40 kV และ 30 mA สัณฐานวิทยาและขนาดของทรงกลมนาโนซีโอไลต์ นาโนซีโอไลต์ที่สังเคราะห์ได้ และซีโอไลต์ NaY เชิงพาณิชย์ (เช่น CPA100) ได้รับการศึกษาโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) ของ Philips XL 30 ซึ่งติดตั้งระบบวิเคราะห์รังสีเอกซ์แบบกระจายพลังงาน (EDX) ) เพื่อวัดอัตราส่วน Si/Al ของตัวอย่างซีโอลิติก

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การตกผลึกของซีโอไลต์ Y สังเคราะห์ได้รับการศึกษาด้วย Cu (Kα) ที่ 40kV และ 30mA โดยใช้ STOE STAD-MP X-ray Diffuser (XRD)
การศึกษาสัณฐานวิทยาและขนาดของทรงกลมนาโนซีโอไลต์, ซีโอไลต์สังเคราะห์นาโนและซีโอไลต์เชิงพาณิชย์ NaY เช่น CPA100 โดยฟิลิปส์ XL 30 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนสแกน (SEM) ที่ติดตั้งระบบการวิเคราะห์รังสีเอกซ์การกระจายพลังงาน (EDX) เพื่อวัดอัตราส่วน Si / Al ของตัวอย่างซีโอไลต์

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การศึกษาการตกผลึกของซีโอไลต์สังเคราะห์Yด้วยCu ( Kα )ที่40 kvและ30 mAโดยใช้เครื่องวัดการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์( XRD )ของSTOE STAD-MP
ลักษณะทางสัณฐานวิทยาและขนาดของนาโนซีโอไลต์นาโนซีโอไลต์สังเคราะห์และซีโอไลต์NaYเชิงพาณิชย์( CPA 100 )ถูกตรวจสอบโดยกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด( EDX )เพื่อวัดอัตราส่วนSi/Alของตัวอย่างซีโอไลต์