The tensile fractured surfaces of t

The tensile fractured surfaces of the compounds were examined by using a Zeiss Supra-35VP scanning electron microscope(SEM)to obtain information regarding the filler dispersion and to detect the possible presence of microdefects.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

พื้นผิว fractured แรงดึงสารถูกตรวจสอบ โดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกน Zeiss นี้-35VP (SEM) เพื่อรับข้อมูลเกี่ยวกับการกระจายตัวฟิลเลอร์ และตรวจหาได้ microdefects

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

แรงดึงผิวร้าวของสารที่ถูกตรวจสอบโดยใช้ Zeiss Supra-35VP กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) ที่จะได้รับข้อมูลเกี่ยวกับการกระจายตัวของฟิลเลอร์และการตรวจสอบการแสดงตนเป็นไปได้ของ microdefects

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การแตกแรงดึงผิวของสารทดสอบโดยใช้ Zeiss supra-35vp กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) เพื่อให้ได้ข้อมูลเกี่ยวกับการบรรจุและตรวจสอบสถานะที่เป็นไปได้ของ microdefects .