The surface and cross section morph

The surface and cross section morphologies of the film samples were examined using a field emission scanning electron microscope under the standard high-vacuum conditions.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

Morphologies ส่วนขนและพื้นผิวของตัวอย่างฟิล์มถูกตรวจสอบโดยใช้กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกนฟิลด์เล็ดรอดภายใต้ภาวะสุญญากาศสูงมาตรฐาน

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

พื้นผิวและรูปร่างลักษณะตัดขวางของตัวอย่างภาพยนตร์มีการตรวจสอบโดยใช้การปล่อยข้อมูลกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบภายใต้มาตรฐานสภาพสูญญากาศสูง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

พื้นผิวและข้ามส่วนสัณฐานของภาพยนตร์ตัวอย่างมีการใช้ฟิลด์จากกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนภายใต้มาตรฐานสูงสูญญากาศเงื่อนไข