Potential defect tracking algorithm

Potential defect tracking algorithm is the second part. The average processing time of the first part is tested by processing the above 15 images for 10 times, and the
average processing time of the second part is tested by tracking the segmented potential defects in above sequence of images for 1000 times

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ส่วนที่สองอัลกอริทึมติดตามข้อบกพร่องที่อาจเกิดขึ้นได้ เวลาประมวลผลเฉลี่ยของ first จะทดสอบ โดยการประมวลผลภาพ 15 ข้างต้นสำหรับ 10 เท่า และเวลาประมวลผลเฉลี่ยของส่วนที่สองจะทดสอบ โดยการติดตามแบ่งส่วนเป็นข้อบกพร่องในเหนือลำดับภาพ 1000 ครั้ง

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ขั้นตอนวิธีการติดตามข้อบกพร่องที่อาจเกิดขึ้นเป็นส่วนที่สอง เวลาการประมวลผลค่าเฉลี่ยของส่วนแรก Fi ได้รับการทดสอบโดยการประมวลผลด้านบน 15 ภาพสำหรับ 10 ครั้งและ
เวลาการประมวลผลค่าเฉลี่ยของส่วนที่สองคือการทดสอบโดยการติดตามข้อบกพร่องที่อาจเกิดขึ้นในลำดับแบ่งส่วนด้านบนของภาพสำหรับ 1000 ครั้ง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

แบบการแก้ไขข้อบกพร่องที่อาจเกิดขึ้นเป็นส่วนที่สอง เฉลี่ยเวลาในการประมวลผลของส่วนหนึ่งจึงตัดสินใจเดินทางไปทดสอบโดยการประมวลผลเหนือ 15 ภาพ 10 ครั้ง และ
เฉลี่ยเวลาในการประมวลผลของส่วนที่สองเป็นการทดสอบโดยการติดตามข้อบกพร่องที่อาจเกิดขึ้นในลำดับข้างต้นแบ่งภาพ
1000 ครั้ง