A field emission Scanning Electron

A field emission Scanning Electron Microscope (SEM),Jeol model JSM 7401F, operating at an accelerating voltage of 5.0 kV was used for the topochemical inspection of the modified platform without and with niobium carbide modification

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

มลพิษเป็นฟิลด์การสแกนกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM), Jeol รุ่น JSM 7401F ปฏิบัติงานที่มีแรงดันไฟฟ้าปัจจุบันของ 5.0 kV ใช้สำหรับตรวจสอบ topochemical ของแพลตฟอร์มปรับเปลี่ยนโดย และปรับเปลี่ยนคาร์ไบด์ไนโอเบียม

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การปล่อยข้อมูลกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน (SEM) Jeol JSM 7401F รูปแบบการดำเนินงานที่แรงดันไฟฟ้าเร่ง 5.0 กิโลโวลต์ที่ใช้สำหรับการตรวจสอบ topochemical ของแพลตฟอร์มการแก้ไขโดยไม่ต้องมีการดัดแปลงและคาร์ไบด์ไนโอเบียม

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สนามจากกล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) , รุ่น Jeol JSM 7401f งานที่เร่งแรงดัน 5.0 กิโลถูกใช้สำหรับการตรวจสอบ topochemical ของแพลตฟอร์มการปรับเปลี่ยนให้มีการปรับเปลี่ยนไนโอเบียมคาร์ไบด์