In Fig. 6 we show the failure proba

In Fig. 6 we show the failure probability for two representative cell loads, i.e., 10 H2H UEs (low load) and 40 H2H UEs (high load).
The failure probability for a smart object is defined as the ratio between the number of CoAP responses received with success and the total number of CoAP requests sent. Failure occurs because of some of the RLC PDUs being lost at the UE/eNB level, due to either node/cell congestion or channel fading effects.
In a more complex simulation scenario with multiple cells co-located in the same region and using the same frequency bands, which is not considered here, inter-cell interference would also contribute to these failures.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ในรูปที่ 6 เราต้องแสดงความน่าเป็นความล้มเหลวสำหรับโหลดเซลล์ตัวแทนสอง เช่น 10 H2H UEs (โหลดต่ำ) และ 40 H2H UEs (โหลดสูง) ความน่าเป็นความล้มเหลวสำหรับวัตถุสมาร์ทถูกกำหนดเป็นอัตราส่วนระหว่างจำนวนของการตอบสนอง CoAP ที่ได้รับความสำเร็จและจำนวนคำขอ CoAP ส่ง ความล้มเหลวเกิดขึ้นเนื่องจากบางส่วนของ PDUs RLC ที่เลือนหายไปในระดับ มาก/eNB เนื่องจากความหนาแน่นของโหน/เซลล์หรือช่องซีดผล ในการจำลองซับซ้อนสถานการณ์หลายเซลล์ร่วมอยู่ในภูมิภาคเดียวกัน และใช้แถบความถี่เดียวกัน ซึ่งไม่ถือว่าที่นี่ สัญญาณรบกวนระหว่างเซลล์จะยังนำไปสู่ความล้มเหลวเหล่านี้

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

ในรูป 6 เราจะแสดงความน่าจะเป็นความล้มเหลวสำหรับสองโหลดตัวแทนเซลล์คือ 10 UEs H2H (โหลดต่ำ) และ UEs 40 H2H (โหลดสูง).
น่าจะเป็นความล้มเหลวสำหรับวัตถุสมาร์ทมีการกำหนดเป็นอัตราส่วนระหว่างจำนวนของการตอบสนอง CoAP รับกับที่ ประสบความสำเร็จและจำนวนรวมของการร้องขอ CoAP ส่ง ความล้มเหลวที่เกิดขึ้นเนื่องจากมีบางส่วนของ PDUs RLC การสูญเสียในระดับ UE / ENB เนื่องจากโหนด / เซลล์แออัดหรือช่องผลกระทบซีดจาง.
ในสถานการณ์จำลองที่มีความซับซ้อนมากขึ้นด้วยหลายเซลล์ร่วมอยู่ในภูมิภาคเดียวกันและใช้เหมือนกัน คลื่นความถี่ที่ไม่ได้รับการพิจารณาที่นี่รบกวนระหว่างเซลล์ก็จะนำไปสู่ความล้มเหลวเหล่านี้