IR spectra wererecorded on a Bruker

IR spectra were
recorded on a Bruker IFS-66 FT-IR Spectrophotometer (Billerica, MA,
USA). High angle X-ray diffraction (XRD) patterns were obtained on a
Philips-PW 17C diffractometer with Cu Ka radiation. SEM was
performed by gently distributing the powder sample on the stainless
steel stubs, using SEM (Philips, XL30, Almelo, the Netherlands)
instrument.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

มี IR แรมสเป็คตราบันทึกไว้ในแบบ Bruker IFS 66 ฟุต IR เครื่องทดสอบกรดด่าง (Billerica, MAสหรัฐอเมริกา) รูปแบบการเลี้ยวเบนการเอ็กซ์เรย์ (XRD) ของมุมสูงที่ได้รับในการDiffractometer ฟิลิปส์-PW 17C กับรังสี Cu Ka SEM ได้ดำเนินการ โดยค่อย ๆ กระจายตัวอย่างผงในแบบสแตนเลสเหล็กสตับ ใช้ SEM (ฟิลิปส์ XL30, Almelo ประเทศเนเธอร์แลนด์)เครื่องมือ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

IR
สเปกตรัมถูกบันทึกอยู่ในBruker IFS-66 FT-IR Spectrophotometer (บิลเลริกา, MA,
USA) มุมสูง X-ray diffraction (XRD) รูปแบบที่ได้รับใน
17C Philips-PW diffractometer ด้วยการฉายรังสีลูกบาศ์กกา SEM
ได้รับการดำเนินการโดยค่อยๆกระจายตัวอย่างผงสแตนเลสที่สมบูรณ์เหล็กโดยใช้
SEM (ฟิลิปส์, XL30, Almelo, เนเธอร์แลนด์)
เครื่องดนตรี