When contrast of background and pro

When contrast of background and product(chip) complete.then can detect chipping defect as shown below

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

เมื่อความแตกต่างของพื้นและ product(chip) complete.then สามารถตรวจพบความบกพร่องไดร์ฟดังต่อไปนี้

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

เมื่อความคมชัดของพื้นหลังและผลิตภัณฑ์ (ชิป) complete.then สามารถตรวจสอบข้อบกพร่องบิ่นที่แสดงด้านล่าง

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

เมื่อความแตกต่างของพื้นหลังและผลิตภัณฑ์ ( ชิป ) complete.then สามารถตรวจจับข้อบกพร่องของตนเอง ดังรูปด้านล่าง