AFM nanoscale thermal analysisAtomi

AFM nanoscale thermal analysis
Atomic force microscopy (AFM) was performed on a Bruker
Nanoscope IIIa atomic force microscope. The modification of the
degradation temperature at the surface of the cellulose acetate
substrates was monitored using an AFM nanoscale thermal analysis
module (Vita). This technique allows the determination of the local
degradation temperature of polymers with nanoscale spatial resolution.
The increase in temperature causes a progressive thermal
expansion of the polymer, which leads to a cantilever deflection.
When the probe temperature reaches a transition temperature of
the polymer (such as the glass transition temperature), the probe
penetrates into the sample. This penetration causes an opposite
deflection that can be detected by the microscope. The deflection
depends on the temperature of the probe. By plotting the variation
of the deflection as a function of temperature, the Tg can be
determined, which corresponds to the maximum of the curve.
Measurements were performed on irradiated and non-irradiated
CA samples to investigate potential changes in the thermal properties
of the samples during irradiation. Each measurement was

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ด้าน nanoscale วิเคราะห์ความร้อนทำตาม Bruker ไมโครสโคแรงอะตอม (ด้าน)กล้องจุลทรรศน์แบบแรงอะตอม Nanoscope IIIa การเปลี่ยนแปลงของการการลดอุณหภูมิที่พื้นผิวของเซลลูโลสอะซิเตพื้นผิวถูกตรวจสอบโดยใช้การวิเคราะห์ความร้อน nanoscale ด้านโมดูล (Vita) เทคนิคนี้ช่วยให้การตัดสินใจของท้องถิ่นอุณหภูมิการสลายตัวของโพลิเมอร์มีความละเอียดเชิงพื้นที่ nanoscaleการเพิ่มอุณหภูมิทำให้เกิดความก้าวหน้าการขยายตัวของโพลีเมอร์ ซึ่งนำไปสู่การโก่ง cantileverเมื่อวัดอุณหภูมิถึงอุณหภูมิเปลี่ยนพอลิเมอร์ (เช่นอุณหภูมิการเปลี่ยนแก้ว) โพรบแทรกซึมเข้าไปในตัว เจาะนี้ทำให้การตรงกันข้ามโก่งที่สามารถตรวจพบ ด้วยกล้องจุลทรรศน์ การโก่งขึ้นอยู่กับอุณหภูมิของโพรบ โดยวางแผนการเปลี่ยนแปลงการโก่งเป็นฟังก์ชันของอุณหภูมิ Tg สามารถกำหนด ซึ่งตรงกับสูงสุดของเส้นโค้งวัดได้ดำเนินการใน irradiated และปลอด irradiatedตัวอย่าง CA เพื่อตรวจสอบการเปลี่ยนแปลงในคุณสมบัติของความร้อนตัวอย่างในระหว่างการฉายรังสี แต่ละวัด

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

AFM นาโนวิเคราะห์ความร้อน
กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) คือการดำเนินการบน Bruker
Nanoscope IIIa อะตอมกล้องจุลทรรศน์แรง การปรับเปลี่ยนของ
อุณหภูมิการย่อยสลายที่พื้นผิวของเซลลูโลสอะซิเตท
พื้นผิวที่ได้รับการตรวจสอบโดยใช้นาโน AFM วิเคราะห์ความร้อน
Module (Vita) เทคนิคนี้จะช่วยให้การตัดสินใจของท้องถิ่น
อุณหภูมิการสลายตัวของโพลิเมอร์ที่มีความละเอียดเชิงพื้นที่ระดับนาโน.
การเพิ่มขึ้นของอุณหภูมิทำให้เกิดความร้อนความก้าวหน้า
การขยายตัวของพอลิเมอซึ่งนำไปสู่การโก่งเท้าแขน.
เมื่ออุณหภูมิของการสอบสวนถึงอุณหภูมิการเปลี่ยนแปลงของ
พอลิเมอ (เช่น อุณหภูมิเปลี่ยนแปลงแก้ว) สอบสวน
แทรกซึมเข้าไปในกลุ่มตัวอย่าง เจาะนี้ทำให้ตรงข้าม
โก่งว่าสามารถตรวจพบโดยกล้องจุลทรรศน์ โก่ง
ขึ้นอยู่กับอุณหภูมิของหัวที่ โดยการวางแผนรูปแบบ
ของการโก่งเป็นหน้าที่ของอุณหภูมิที่ Tg สามารถ
กำหนดซึ่งสอดคล้องกับสูงสุดของเส้นโค้ง.
วัดได้ดำเนินการเกี่ยวกับการฉายรังสีและไม่ฉายรังสี
ตัวอย่าง CA เพื่อตรวจสอบการเปลี่ยนแปลงที่อาจเกิดขึ้นในสมบัติทางความร้อน
ของกลุ่มตัวอย่าง ในระหว่างการฉายรังสี แต่ละวัดเป็น

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การวิเคราะห์ความร้อน AFM nanoscaleกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ( AFM ) กำหนดในบรุคเกอร์นาโนสโคปกล้องจุลทรรศน์แรงอะตอมสามารถ . การปรับเปลี่ยนของอุณหภูมิที่พื้นผิวของการย่อยสลายเซลลูโลสอะซิเตทพื้นผิวการใช้ AFM nanoscale การวิเคราะห์ความร้อนโมดูล ( Vita ) เทคนิคนี้ช่วยให้ความตั้งใจของท้องถิ่นอุณหภูมิการสลายตัวของพอลิเมอร์ด้วยนาโนสเกล ( ความละเอียดการเพิ่มอุณหภูมิความร้อนให้มีความก้าวหน้าการขยายตัวของพอลิเมอร์ซึ่งนำไปสู่สะพานการแอ่นตัวเมื่อหัววัดอุณหภูมิถึงการเปลี่ยนแปลงอุณหภูมิของพอลิเมอร์ ( เช่นอุณหภูมิคล้ายแก้ว ) , โพรบแทรกซึมเข้าไปในตัวอย่าง ได้ สาเหตุนี้เป็นตรงข้ามความว่า สามารถตรวจพบได้ด้วยกล้องจุลทรรศน์ การโก่งตัวขึ้นอยู่กับอุณหภูมิด้วย โดยวางแผนรูปแบบของการเป็นฟังก์ชันของอุณหภูมิ , TG สามารถแน่วแน่ , ซึ่งสอดคล้องกับสูงสุดของเส้นโค้งการวัดการฉายรังสีและไม่ฉายรังสีCA ตัวอย่างเพื่อศึกษาการ เปลี่ยนแปลงที่อาจเกิดขึ้นในคุณสมบัติทางความร้อนของกลุ่มตัวอย่างระหว่างการฉายรังสี ในการวัดผล