The detailed investigation demonstr

The detailed investigation demonstrates that carboxylic acid groups may have an
effect on the negative shift of the valence band edge of NiO induced by surface
proton which lowers the hole-injection process and the device photovoltage, while
the pyridine ring works effectively without this problem.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ตรวจสอบรายละเอียดแสดงให้เห็นว่า กรด carboxylic กลุ่มอาจมีการผลกะค่าลบของขอบวงเวเลนซ์ของ NiO ที่เกิดจากพื้นผิวโปรตอนซึ่งช่วยลดการฉีดหลุมและอุปกรณ์ photovoltage ในขณะที่แหวน pyridine ทำงานได้อย่างมีประสิทธิภาพ โดยไม่มีปัญหานี้

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

การตรวจสอบรายละเอียดแสดงให้เห็นว่ากลุ่มกรดคาร์บอกซิอาจมีผลกระทบต่อการเปลี่ยนแปลงในเชิงลบของขอบวงจุของ NiO ที่เกิดจากพื้นผิวโปรตอนซึ่งช่วยลดขั้นตอนการฉีดหลุมและphotovoltage อุปกรณ์ในขณะที่แหวนไพริดีนการทำงานได้อย่างมีประสิทธิภาพโดยไม่เกิดปัญหานี้

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การตรวจสอบข้อมูลที่แสดงให้เห็นว่ากลุ่มกรดคาร์บอกซิลิกอาจจะมีผลในทางลบของเวเลนซ์กะวงขอบและพื้นผิว
โปรตอนนีโอซึ่งช่วยลดรูฉีด กระบวนการและอุปกรณ์ชิ้นงานขณะทำงานได้อย่างมีประสิทธิภาพโดย
แหวนไพริดีน ปัญหานี้