X-ray diffraction (XRD) patterns we

X-ray diffraction (XRD) patterns were observed on a Rigaku
Dmax X-ray diffractometer using Cu K radiation. BET surface area
was measured onASAP2020 using N2 adsorption at −196 ◦C. Raman
spectra were recorded on a Renishaw inVia Raman microscope
using an excitation of 632 nm laser light. Transmission electron
microscopy (TEM) images were obtained on a JEM-100CX electron
microscope.XPS spectra were obtained by aVGMultilab 2000X-ray
photoelectron spectrometer using Mg K radiation, and calibrated
by referencing the binding energy to adventitious carbon (C1s
284.6 eV). Diffuse reflectance UV–vis–IR (DRUV–vis–IR) absorption
spectra were recorded on a UV-3600 spectrophotometer. Photoluminescence
spectra (PL) were recorded at room temperature on a
QM/TM/NIR spectrofluorometer (PTI) by using 337 nm and 480 nm
excitation light.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

ลวดลายการเลี้ยวเบนการเอ็กซ์เรย์ (XRD) ได้สังเกตในการ Rigakuใช้รังสี Cu K diffractometer เอกซเรย์ Dmax พื้นที่ใกล้เคียงonASAP2020 วัดใช้ดูดซับ N2 ที่ −196 ◦C รามันแรมสเป็คตราถูกบันทึกไว้ใน inVia Renishaw กล้องจุลทรรศน์รามันใช้ในการกระตุ้นการแสงเลเซอร์ nm 632 ส่งอิเล็กตรอนภาพ microscopy (ยการ) ได้รับในอิเล็กตรอน JEM-100CXกล้องจุลทรรศน์ แรมสเป็คตรา XPS ได้รับ โดย aVGMultilab 2000 X-rayสเปกโตรมิเตอร์ photoelectron ใช้รังสี Mg K และปรับเทียบโดยอ้างอิงรวมพลังงาน adventitious คาร์บอน (C1s284.6 eV) แฟลชแบบสะท้อนแสง UV – vis – IR (DRUV – วิ – IR) ดูดซึมแรมสเป็คตราถูกบันทึกไว้ในเครื่องทดสอบกรดด่างเป็น UV-3600 Photoluminescenceแรมสเป็คตรา (PL) ถูกบันทึกไว้ที่อุณหภูมิห้องในSpectrofluorometer QM/TM/NIR (PTI) โดย 337 nm และ 480 nmไฟในการกระตุ้น

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

X-ray diffraction (XRD) รูปแบบถูกตั้งข้อสังเกตใน Rigaku
Dmax มาตรการเลี้ยวเบนรังสีเอกซ์โดยใช้ลูกบาศ์ก K รังสี พื้นที่ผิว BET
วัด onASAP2020 ใช้การดูดซับที่ N2 -196 ◦C รามันสเปกตรัมถูกบันทึกไว้บนกล้องจุลทรรศน์ Renishaw inVia รามันใช้การกระตุ้นของ632 นาโนเมตรแสงเลเซอร์ ส่งอิเล็กตรอนกล้องจุลทรรศน์ (TEM) ภาพที่ได้รับในอิเล็กตรอน JEM-100CX สเปกตรัม microscope.XPS ได้จาก aVGMultilab 2000x-ray สเปกโตรมิเตอร์โฟโตโดยใช้ Mg K รังสีและการสอบเทียบโดยอ้างอิงปกพลังงานคาร์บอนบังเอิญ(C1s 284.6 eV) สะท้อนกระจาย UV-Vis-IR (DRUV-Vis-IR) การดูดซึมสเปกตรัมที่ถูกบันทึกไว้ใน spectrophotometer UV-3600 เรืองแสงสเปกตรัม (PL) ถูกบันทึกไว้ที่อุณหภูมิห้องใน QM / TM / NIR spectrofluorometer (PTI) โดยใช้ 337 นาโนเมตรและ 480 นาโนเมตรแสงกระตุ้น

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

การเลี้ยวเบนของรังสีเอ็กซ์ พบว่ามีรูปแบบใน rigaku เอ็กซ์เรย์ดิฟแฟรกโทมิเตอร์ Cu K
ดีแมคซ์โดยใช้รังสี
พื้นที่ผิวว่าวัด onasap2020 โดยใช้การดูดซับที่− 2 196 ◦ C
สเปกตรัมรามันถูกบันทึกไว้ใน 10 invia รามันกล้องจุลทรรศน์
ใช้ความตื่นเต้นของผม nm เลเซอร์แสง กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( TEM )
ภาพได้ใน jem-100cx
กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอน .XPS Spectra ได้รับจาก avgmultilab 2000x เรย์
photoelectron สเปกโตรมิเตอร์โดยใช้มิลลิกรัม K รังสีและสอบเทียบ
โดยอ้างอิงพลังงานผูกพันกับปากดี คาร์บอน ( c1s
284.6 EV ) กระจายสะท้อน UV และ IR ( druv Vis Vis ––– IR spectra ) การดูดซึม
ถูกบันทึกไว้ใน uv-3600 วัสดุ สเปกตรัมแบบ
( PL ) ได้ถูกบันทึกไว้ที่อุณหภูมิห้องบน
QM / TM / NIR spectrofluorometer ( PTI ) โดยใช้ 337 nm และ 480 nm

แบบแสง