Morphology and surface roughness pr

Morphology and surface roughness properties were studiedusing a LEO mod. S360 scanning electron microscope (SEM) anda Veeco mod. NSIV atomic force microscope (AFM), respectively.

ผลลัพธ์ (ไทย) 1:

สัณฐานวิทยาและสมบัติความหยาบผิวได้ studiedusing mod ลีโอ S360 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนการสแกน (SEM) อันดา Veeco mod NSIV อะตอมบังคับกล้องจุลทรรศน์ (AFM), ตามลำดับ

ผลลัพธ์ (ไทย) 2:

สัณฐานวิทยาและคุณสมบัติพื้นผิวที่ขรุขระถูก studiedusing พอควร LEO S360 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด (SEM) anda mod วีโก้ NSIV กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม (AFM) ตามลำดับ

ผลลัพธ์ (ไทย) 3:

สัณฐานวิทยาและคุณสมบัติของพื้นผิวขรุขระเป็น studiedusing ราศีสิงห์ mod s360 กล้องจุลทรรศน์อิเล็กตรอนแบบส่องกราด ( SEM ) และ VEECO mod nsiv กล้องจุลทรรศน์แรงอะตอม ( AFM ) ตามลำดับ